[实用新型]过零检测电路、可控硅控制装置、马达控制装置及搅拌器

权利要求书

1.一种过零检测电路，其特征在于，所述电路包括：整流电路、光耦电路、恒流电路；

所述整流电路的输入端与交流电源的第一接线端连接，所述整流电路的输出端与所述光耦电路的输入端连接，用于对所述交流电源的第一接线端输出的交流电进行过滤，输出正半周电流给所述光耦电路；

所述光耦电路的输出端与过零检测信号接收端口连接，用于根据所述正半周电流的变化输出第一电平信号或第二电平信号给所述过零检测信号接收端口，以实现过零检测，所述第一电平信号小于所述第二电平信号；

所述恒流电路分别与所述光耦电路及所述交流电源的第二接线端连接，用于在所述光耦电路输出所述第一电平信号期间维持所述光耦电路的电流在一恒定值。

2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述恒流电路包括第一开关三极管、第二开关三极管、第一偏置电阻、第二偏置电阻；

其中，所述第一偏置电阻的一端与所述整流电路的输出端连接，所述第一偏置电阻的另一端与所述第一开关三极管的基极连接；

所述第一开关三极管的集电极与所述光耦电路连接，所述第一开关三极管的发射极分别与所述第二开关三极管的基极、所述第二偏置电阻的一端连接；

所述第二偏置电阻的另一端与所述第二开关三极管的发射极连接后与所述交流电源的第二接线端连接；

所述第二开关三极管的集电极与所述第一开关三极管的基极连接。

3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述第一开关三极管为NPN三极管，所述第二开关三极管为NPN三极管。

4.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述光耦电路包括光耦和上拉电阻，其中，所述光耦的正输入端与所述整流电路的输出端连接，所述光耦的负输入端与所述恒流电路连接；

所述光耦的正输出端的一端分别与所述上拉电阻的一端、所述过零检测信号接收端口连接，所述上拉电阻的另一端与预设电源连接，所述光耦的负输出端接地。

5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述整流电路包括整流二极管，所述整流二极管的正极与所述交流电源的第一接线端连接，所述整流二极管的负极与所述光耦电路的输入端连接。

6.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电路还包括限流电路，

所述整流电路的输入端通过所述限流电路与所述光耦电路的输入端连接，所述限流电路用于将所述正半周电流减小后输出给所述光耦电路。

7.根据权利要求6所述的电路，其特征在于，所述限流电路包括第一限流电阻和第二限流电阻；

其中，所述第一限流电阻的一端与所述整流电路的输入端连接，所述第一限流电阻的另一端分别与所述恒流电路和所述第二限流电阻的一端连接；

所述第二限流电阻的另一端与所述光耦电路的输入端连接，用于将所述第一限流电阻输出的电流减小后输入所述光耦电路。

8.一种可控硅控制装置，其特征在于，所述可控硅控制装置包括：可控硅、微处理器以及如权利要求1-7中任意一项所述的过零检测电路，其中，所述过零检测电路的输出端与所述微处理器的输入端连接，所述微处理器的输出端与所述可控硅连接；

所述过零检测电路用于输出所述第一电平信号或所述第二电平信号给所述微处理器；

所述微处理器用于根据所述第一电平信号或所述第二电平信号生成控制信号，并将所述控制信号发送给所述可控硅；

所述可控硅用于执行所述控制信号对应的通断操作。

9.一种马达控制装置，其特征在于，所述马达控制装置包括：马达和如权利要求8中所述的可控硅控制装置，包括：

所述可控硅控制装置连接在驱动电源与所述马达之间，用于连接或断开所述马达与所述驱动电源之间的连接；

所述马达用于在连接到所述驱动电源时转动。

10.一种搅拌器，其特征在于，所述搅拌器包括杯体、基座、搅拌头，所述搅拌头中包括所述权利要求9中所述的马达控制装置，包括：

所述杯体与所述基座连接，用于存放待搅拌对象；

所述基座的一端与工作电源连接，用于为所述搅拌头供电；

所述搅拌头与所述基座的另一端连接，用于在通电时对所述待搅拌对象进行搅拌。