[实用新型]一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置有效

专利信息
申请号: 202022461080.4 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN213213920U 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 洪亚德;林中龙;王士奇;赵凌焜 申请(专利权)人: 厦门福信光电集成有限公司
主分类号: H05F3/04 分类号: H05F3/04
代理公司: 厦门致群财富专利代理事务所(普通合伙) 35224 代理人: 刘兆庆
地址: 361000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 aoi 自动 光学 检测 设备 静电 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,包括固定基座、滑动基座、安装架、连接架及离子风机,所述固定基座上设有滑动槽,所述固定基座两侧设有卡块,所述卡块设有L型卡槽,所述滑动槽和L型卡槽配合行成用于供所述滑动基座前后移动的滑动空间,所述滑动基座上设有锁槽,所述锁槽上设有用于将滑动基座锁紧在所述固定基座上的滑动锁件,所述滑动基座的一端连接有所述安装架,所述安装架两侧设有所述连接架,所述离子风机的两侧设有连接臂,所述连接臂铰接在所述连接架上。本实用新型提供一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,对检测前的液晶屏去除表面静电,去除静电对检测结果的影响,同时防止静电在液晶屏表面放电,损坏电路。

技术领域

本实用新型涉及AOI检测设备的配套装置领域,具体涉及一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置。

背景技术

AOI的全称是自动光学检测,其基于光学原理对TFT-CELL及Module裸露电极区域线路异常(因制程和不当操作导致的划伤而引起的线路open或short等缺陷)。

AOI检测过程需要去除液晶屏表面的静电膜,暴露在空气中的液晶屏会产生静电,静电放电会引起突发性失效和潜在性失效,两种失效带来带来的危害大,会导致电路的抗电过应力能力减弱,使用寿命大大缩短。

现提出一种用于AOI的除静电装置,对去除AOI检测前液晶屏的表面静电。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,对检测前的液晶屏去除表面静电,去除静电对检测结果的影响,同时防止静电在液晶屏表面放电,损坏电路。

为实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案:

一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,包括固定基座、滑动基座、安装架、连接架及离子风机,所述固定基座上设有滑动槽,所述固定基座两侧设有卡块,所述卡块设有L型卡槽,所述滑动槽和L型卡槽配合行成用于供所述滑动基座前后移动的滑动空间,所述滑动基座上设有锁槽,所述锁槽上设有用于将滑动基座锁紧在所述固定基座上的滑动锁件,所述滑动基座的一端连接有所述安装架,所述安装架两侧设有所述连接架,所述离子风机的两侧设有连接臂,所述连接臂铰接在所述连接架上。

优选地,所述连接架上设有旋转口,所述连接臂上设有用于转动连接在所述旋转口上的旋转柱,所述旋转柱的顶端设有卡板。

优选地,所述离子风机上设有多个出风口。

优选地,所述连接臂上设有安装口,所述安装口上设有连接所述离子风机的进风管。

优选地,所述滑动锁件包括连接柱、锁块及按压件,所述连接柱穿过所述锁槽,且底端固定连接在所述固定基座上,所述锁块活动套设在所述连接柱上且位于所述锁槽上方,所述按压件用于固定所述锁块位置。

采用上述技术方案后,本实用新型与背景技术相比,具有如下优点:

1、本实用新型一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,可直接设置在AOI的上料装置上,对检测前的液晶屏去除表面静电,去除静电对检测结果的影响,同时防止静电在液晶屏表面放电,损坏电路,降低静电危害对产品使用寿命的影响。

2、本实用新型一种用于AOI自动光学检测设备的除静电装置,离子风机可根据实际使用需求通过滑动基座调节距离,通过连接臂调整角度,使用范围广。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图;

图2为本实用新型另一视角结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

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