[实用新型]一种测试系统的隔离电压输入电路

说明书

本实用新型公开一种测试系统的隔离电压输入电路，包括隔离电路和与隔离电路连接的测试电路，隔离电路与测试电路连接，隔离电路包括电源隔离芯片J1、电感L1、电容C1、电容C2和电容C3，电源隔离芯片J1的Vin端与电容C1并联后与5V电源连接，电源隔离芯片J1的GND端与电容C1并联后接地，电源隔离芯片J1的Vout端与电感L1串联连接，电感L1分别与电容C2和电容C3并联后与测试电路连接，电源隔离芯片J1的0V端分别与电容C2、电容C3和测试电路并联后接地。本电路通过电源隔离芯片J1将输入端与测试系统隔离开，避免外部的输入电压出现偏差从而损坏整个测试系统，提高了测试系统的可靠性。

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，具体涉及一种测试系统的隔离电压输入电路。

背景技术

随着伺服电机的大量普及和使用，伺服控制系统的需求也相应增加，而不同的伺服控制系统的质量和可靠性也会有所不同，在这种背景下，又开发出了伺服测试系统，通过伺服测试系统对伺服控制系统的质量及其可靠性进行测试，以此分辨伺服控制系统的好坏。而伺服测试系统内最重要的就是电压测量，因为伺服控制系统采用的是交流220V或以上的供电，电压过高容易造成元器件的损坏，从而导致不必要的损失，而伺服测试系统可以检测出伺服控制系统的问题，再通过单片机的ADC电路来读取实际电压值，以此作为判断伺服电机驱动板的好坏其中一个依据。

现有的测试系统主要就是把需要测量的电压直接输入电路进行测量，然后通过ADC电路来采样并计算出实际电压值，但是这个过程中输入电压与整个测试电路共用同一个地，当测试的输入电压出现偏差时就会损坏整个测试系统。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试系统的隔离电压输入电路，保护测试系统，提高测试系统的可靠性和适用性。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

提供一种测试系统的隔离电压输入电路，包括隔离电路和与所述隔离电路连接的测试电路，所述隔离电路包括电源隔离芯片J1、电感L1、电容C1、电容C2和电容C3，所述电源隔离芯片J1的Vin端与所述电容C1并联后与5V电源连接，所述电源隔离芯片J1的GND端与所述电容C1并联后接地，所述电源隔离芯片J1的Vout端与所述电感L1串联连接，所述电感L1分别与所述电容C2和所述电容C3并联后与所述测试电路连接，所述电源隔离芯片J1的0V端分别与所述电容C2、所述电容C3和所述测试电路并联后接地。

作为测试系统的隔离电压输入电路的一种优选方案，所述测试电路包括隔离放大器U1、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电容C4、电容C5和电容C6，所述电阻R1与外部输入电压MMP1连接，所述电阻R2分别与所述电阻R1和所述电容C4并联后与所述电阻R3连接，所述电阻R3与所述电容C5并联后与所述隔离放大器U1的IN+端连接，所述电阻R2、所述电容C4、所述电容C5、所述隔离放大器U1的IN-端和GND1端并联后接地，所述电容C2和所述电容C3并联后与所述隔离放大器U1的VDD1端连接，所述隔离放大器U1的VDD2端与所述电容C6并联后与5V电源连接，所述隔离放大器U1的GND2端与所述电容C6并联后接地。

作为测试系统的隔离电压输入电路的一种优选方案，所述电源隔离芯片J1为B0505S-1W。

作为测试系统的隔离电压输入电路的一种优选方案，所述隔离放大器U1为AMC1200。

作为测试系统的隔离电压输入电路的一种优选方案，所述电阻R1的阻值为49.5KΩ，所述电阻R2的阻值为330Ω，所述电阻R3的阻值为100Ω。

作为测试系统的隔离电压输入电路的一种优选方案，所述电容C1、所述电容C3和所述电容C6的电容量均为0.1μF，所述电容C2的电容量为10μF，所述电容C4和所述电容C5的电容量均为10nF。