[实用新型]一种高精度检测RFID芯片性能平台

权利要求书

1.一种高精度检测RFID芯片性能平台，包括底台(1)，其特征在于，所述底台(1)顶部连接有放置台(2)，所述放置台(2)顶侧挖设有第一矩形凹槽(3)，所述第一矩形凹槽(3)内腔中设有第一螺纹杆(4)，所述第一矩形凹槽(3)顶部固定连接有定位框架(5)，所述第一矩形凹槽(3)内壁之间滑动连接有放置板(6)，所述放置板(6)顶部挖设有放置槽(7)，所述放置台(2)右侧设有第一调节钮(8)，所述底台(1)左侧设有第二调节钮(9)，所述底台(1)顶部挖设有第二矩形凹槽(10)，所述第二矩形凹槽(10)内部设有第二螺纹杆(11)，所述第二矩形凹槽(10)内壁之间滑动连接有支撑板(12)。

2.根据权利要求1所述一种高精度检测RFID芯片性能平台，其特征在于：所述第一螺纹杆(4)左端通过轴承与第一矩形凹槽(3)内壁连接，所述第一螺纹杆(4)右端贯穿放置台(2)右侧，且与第一调节钮(8)连接固定。

3.根据权利要求1所述一种高精度检测RFID芯片性能平台，其特征在于：所述第一螺纹杆(4)外壁上设有第一螺母，所述第一螺纹杆(4)通过第一螺母与放置板(6)底侧固定连接。

4.根据权利要求1所述一种高精度检测RFID芯片性能平台，其特征在于：所述第二螺纹杆(11)右端通过轴承与第二矩形凹槽(10)内壁连接，所述第二螺纹杆(11)左端贯穿底台(1)左侧，且与第二调节钮(9)连接。

5.根据权利要求1所述一种高精度检测RFID芯片性能平台，其特征在于：所述第二螺纹杆(11)外壁上设有第二螺母，所述第二螺纹杆(11)通过螺母与支撑板(12)底部固定连接，所述支撑板(12)顶部与放置台(2)底部左侧固定连接。

6.根据权利要求1所述一种高精度检测RFID芯片性能平台，其特征在于：所述第二矩形凹槽(10)左右两侧对称设有第三矩形凹槽(13)，所述第三矩形凹槽(13)内壁之间固定连接有导向杆(14)，所述导向杆(14)外壁上通过套环连接有移动板(15)，所述移动板(15)顶侧与放置台(2)底侧固定连接。