[实用新型]一种测试组件及装置

说明书

本申请公开了一种测试组件及装置，其中，该测试组件包括矩阵开关和测试座，所述矩阵开关包括依序连接的总线端口、多路开关和扩展端口，所述总线端口用于连接测试仪器，所述扩展端口的数量大于所述总线端口的数量；所述测试座具有用于与待测器件的测试引脚对应连接的电极，以及与所述电极对应连接的测试端口，所述测试端口与所述扩展端口一一对应连接；所述测试仪器能够通过所述矩阵开关切换连接到所述待测器件的不同所述测试引脚。本申请能大幅提高器件电性能测设的测试效率、测试精度和测试一致性。

技术领域

本申请涉及测试设备领域，特别是涉及一种测试组件及装置。

背景技术

在测量PCB的电性能参数时，常常遇到某个PCB需要对多个端口进行测试的情况，而某些测试仪器由于本身测试端口的数量有限，导致其无法单次对全部的PCB端口进行测试，只能够通过线缆和器件的重复调换和拆装实现对PCB的所有端口进行测试，测试效率低，对仪器端口的磨损大，极大的影响了测试精度和测试一致性。

实用新型内容

本申请提供一种测试组件及装置，能大幅提高器件电性能测试的测试效率、测试精度和测试一致性。

为解决上述技术问题，本申请一方面提供一种测试组件，包括：

矩阵开关，所述矩阵开关包括依序连接的总线端口、多路开关和扩展端口，所述总线端口用于连接测试仪器，所述扩展端口的数量大于所述总线端口的数量；

测试座，所述测试座具有用于与待测器件的测试引脚对应连接的电极，以及与所述电极对应连接的测试端口，所述测试端口与所述扩展端口一一对应连接；

其中，所述测试仪器能够通过所述矩阵开关切换连接到所述待测器件的不同所述测试引脚。

其中，所述测试座包括：

测试盒，所述测试盒设有用于放置所述待测器件的容置槽，所述电极的一端从所述容置槽底表面凸出，所述电极的另一端与所述测试端口对应连接。

其中，所述测试盒包括：

盒体，所述盒体的一端面设有所述容置槽；

盖体，所述盖体与所述盒体铰接相连，且所述盖体能够盖合于所述盒体设有所述容置槽的端面上；

其中，所述盖体盖合于所述盒体上，以用于压紧容置于所述容置槽内的所述待测器件，使所述待测器件的所述测试引脚抵触所述电极。

其中，所述盖体上设有卡扣，所述盒体上设有与所述卡扣对应设置的卡槽，使所述盖体盖于所述盒体上后能够与所述盒体卡扣连接。

其中，所述测试盒还包括：

弹性推杆，所述弹性推杆的一端设置在所述盒体中，另一端为可从所述盒体设有所述容置槽的端面伸出的自由端；所述盖体盖于所述盒体后，所述盖体用于在盖于所述盒体后能够压持所述弹性推杆的自由端，以使得所述弹性推杆产生弹力，进而用于在相对于所述盒体开盖时能在所述弹性推杆的弹力作用下向外弹开。

其中，所述弹性推杆包括：

弹性件，所述弹性件设置于所述盒体内；

顶杆，所述顶杆的一端可活动地插置于所述盒体中，且与所述弹性件连接，另一端从所述盒体设有所述容置槽的端面伸出；

其中，所述顶杆在被所述盖体压持时往远离所述盖体的方向移动，进而压缩所述弹性件，在所述盖体相对于所述盒体开盖时，所述顶杆在所述弹性件弹性恢复的作用下抵顶所述盖体，以使得所述盖体往外弹开。

其中，所述盒体包括：

第一安装板，所述第一安装板的一侧面开设有所述容置槽，且开设有贯穿其相背的两侧的顶杆孔；