[实用新型]数据卡的检测电路及电子设备

权利要求书

1.一种数据卡的检测电路，其特征在于，包括：

检测弹片，电子设备的壳体开设有数据卡的容纳槽，所述检测弹片设置于所述容纳槽内，当所述数据卡位于所述容纳槽内时，所述检测弹片的电平为第一电平；当所述数据卡至少部分位于所述容纳槽之外时，所述检测弹片的电平为第二电平，所述第一电平与所述第二电平不相同；

控制模块，所述控制模块包括第一电源引脚，信号输入引脚和第一上拉电阻，所述第一上拉电阻的一端与所述第一电源引脚电连接，另一端与所述信号输入引脚电连接；

信号处理模块，所述信号处理模块的第一端与所述检测弹片电连接，所述信号处理模块的第二端与所述信号输入引脚电连接。

2.根据权利要求1所述的数据卡的检测电路，其特征在于，所述信号处理模块为第一滤波电路，

所述第一滤波电路的第一端为所述信号处理模块的第一端，所述第一滤波电路的第二端为所述信号处理模块的第二端；

当所述数据卡位于所述容纳槽内时，所述检测弹片的电平为低电平；当所述数据卡至少部分位于所述容纳槽之外时，所述检测弹片的电平为高电平。

3.根据权利要求2所述的数据卡的检测电路，其特征在于，所述第一滤波电路包括电阻和第一电容，

所述电阻的一端与所述检测弹片电连接，另一端与所述信号输入引脚电连接，另一端还与所述第一电容的一端电连接，所述第一电容的另一端接地。

4.根据权利要求1所述的数据卡的检测电路，其特征在于，所述信号处理模块为第二滤波电路，

所述第二滤波电路的第一端为所述信号处理模块的第一端，所述第二滤波电路的第二端为所述信号处理模块的第二端；

当所述数据卡位于所述容纳槽内时，所述检测弹片的电平为低电平；当所述数据卡至少部分位于所述容纳槽之外时，所述检测弹片的电平为高电平。

5.根据权利要求4所述的数据卡的检测电路，其特征在于，所述第二滤波电路包括电感、第二电容和第三电容，

所述电感的第一端与所述检测弹片电连接，所述电感的第二端与所述信号输入引脚电连接；

所述电感的第二端还与所述第二电容的一端电连接，所述第二电容的另一端接地；

所述电感的第二端还与所述第三电容的一端电连接，所述第三电容的另一端接地。

6.根据权利要求1所述的数据卡的检测电路，其特征在于，所述信号处理模块包括第一三极管和下拉电阻，

所述第一三极管的基极与所述检测弹片电连接，所述第一三极管的集电极与所述信号输入引脚电连接，所述第一三极管的发射极与所述下拉电阻的一端电连接，所述下拉电阻的另一端接地；

当所述数据卡位于所述容纳槽内时，所述检测弹片的电平为低电平；当所述数据卡至少部分位于所述容纳槽之外时，所述检测弹片的电平为高电平。

7.根据权利要求1所述的数据卡的检测电路，其特征在于，所述数据卡的检测电路还包括第一电源，

所述第一电源通过所述第一电源引脚与所述第一上拉电阻的一端电连接。

8.根据权利要求1所述的数据卡的检测电路，其特征在于，所述信号处理模块包括第二上拉电阻、第二三极管和第二电源引脚，

所述第二三极管的基极与所述检测弹片电连接，所述第二三极管的集电极与所述信号输入引脚电连接，所述第二三极管的发射极接地；

所述第二三极管的基极还与所述第二上拉电阻的一端电连接，所述第二上拉电阻的另一端与所述第二电源引脚电连接；

当所述数据卡位于所述容纳槽内时，所述检测弹片的电平为高电平；当所述数据卡至少部分位于所述容纳槽之外时，所述检测弹片的电平为低电平。

9.根据权利要求8所述的数据卡的检测电路，其特征在于，所述数据卡的检测电路还包括第二电源，

所述第二电源通过所述第二电源引脚与所述第二上拉电阻的另一端电连接。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：

如权利要求1-9中任一项所述的数据卡的检测电路。