[实用新型]一种芯片测试机主机与芯片负载板的连接结构有效
申请号: | 202022329221.7 | 申请日: | 2020-10-19 |
公开(公告)号: | CN213364966U | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 许传庆;许元君 | 申请(专利权)人: | 苏州锜庆精密电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 机主 负载 连接 结构 | ||
本实用新型公开了一种芯片测试机主机与芯片负载板的连接结构,包括L型板,所述L型板底部固定连接有握把,所述L型板底部连接有放置板,所述L型板外侧壁固定连接有测试主机,所述测试主机上设有测试机构,所述放置板上开设有安装槽,所述安装槽内底部转动连接有转动轴,所述转动轴远离安装槽内底部的一端固定连接有吸盘,所述安装槽内侧壁滑动连接有升降板,所述升降板通过啮合机构与转动轴连接,所述升降板呈L型设置,所述安装槽内设有支撑机构,所述支撑机构与升降板连接。本实用新型通过安装槽、转动轴、啮合机构、吸盘、支撑机构、测试机构以及活动口的配合使用,实现了对芯片负载板的快速测试,提高了工作效率。
技术领域
本实用新型涉及芯片负载板测试技术领域,尤其涉及一种芯片测试机主机与芯片负载板的连接结构。
背景技术
集成电路芯片的设计及生产厂家经常需要使用芯片测试机对集成电路芯片进行测试,芯片测试机主要包括芯片测试机主机和芯片负载板,在测试时,将芯片测试机主机上的测试针与芯片负载板连接在一起进行信号传递实现芯片测试功能。
现有的测试方式都是将芯片负载板上的测试槽与测试针接触来进行对芯片负载板的性能测试,现有技术中都是通过人工手动将芯片负载板上的测试槽与测试针相对应,工作效率低,同时,测试针长期裸露在外面容易粘附灰尘,会影响测试精度。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在问题,而提出的一种芯片测试机主机与芯片负载板的连接结构。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
一种芯片测试机主机与芯片负载板的连接结构,包括L型板,所述L型板底部固定连接有握把,所述L型板底部连接有放置板,所述L型板外侧壁固定连接有测试主机,所述测试主机上设有测试机构,所述放置板上开设有安装槽,所述安装槽内底部转动连接有转动轴,所述转动轴远离安装槽内底部的一端固定连接有吸盘,所述安装槽内侧壁滑动连接有升降板,所述升降板通过啮合机构与转动轴连接,所述升降板呈L型设置,所述安装槽内设有支撑机构,所述支撑机构与升降板连接,所述放置板上设有与安装槽相连通的活动口,所述升降板底部位于活动口内。
优选地,所述测试机构包括两个开设在测试主机上的收纳槽,所述收纳槽内底部固定连接有两个对称设置的第一伸缩杆,所述第一伸缩杆端部固定连接有活动板,所述活动板外侧壁固定连接有两个对称设置的测试针,所述第一伸缩杆外侧壁套设有第一复位弹簧,所述第一复位弹簧的两端分别与收纳槽内底部以及活动板外侧壁固定连接。
优选地,所述测试主机外侧壁固定连接有旋转轴,所述旋转轴外侧壁转动连接有密封板,所述测试主机上开设有两个限位槽,所述密封板上设有限位孔,所述限位孔与相对应的限位槽内插设有同一根限位杆。
优选地,所述支撑机构包括固定连接在安装槽内侧壁的第二伸缩杆,所述第二伸缩杆顶部与升降板底部固定连接,所述第二伸缩杆外侧壁套设有第二复位弹簧,所述第二复位弹簧两端分别与升降板底部以及安装槽内侧壁固定连接。
优选地,所述啮合机构包括套接在转动轴外侧壁的齿轮,所述升降板上设有与齿轮相适配的齿槽。
优选地,所述放置板上设有滑口,所述滑口内侧壁与L型板底部外侧壁滑动连接。
本实用新型与现有技术相比具有以下优点:
1、本实用新型通过安装槽、转动轴、啮合机构、吸盘、支撑机构、测试机构以及活动口的配合使用,实现了对芯片负载板的快速测试,提高了工作效率。
2、本实用新型通过旋转轴、密封板、限位槽、限位孔以及限位杆的配合使用,实现了对测试机构的收纳,避免了测试机构长期裸露在外面容易因灰尘粘附导致测试灵敏度降低的问题,提高了装置的实用性。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种芯片测试机主机与芯片负载板的连接结构的正面连接结构示意图;
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