[实用新型]一种晶片研磨装置有效

专利信息
申请号: 202022247325.3 申请日: 2020-10-10
公开(公告)号: CN213673546U 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 吴春龙;周铁军;毛伟文;王金灵;刘火阳 申请(专利权)人: 广东先导先进材料股份有限公司
主分类号: B24B37/10 分类号: B24B37/10;B24B37/30;B24B37/34
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 颜希文;宋亚楠
地址: 511517 广东省清*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 晶片 研磨 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种晶片研磨装置,包括第一磨盘、第二磨盘、夹持在所述第一磨盘和所述第二磨盘之间的夹具、安装在所述夹具上的基座;所述基座具有相互背离设置的第一端面和第二端面,所述第一端面上设有用于晶片卡入的第一装夹凹槽,所述第二端面上设有用于晶片卡入的第二装夹凹槽,所述第一端面上的晶片与所述第一磨盘接触,所述第二端面上的晶片与所述第二磨盘接触。本实用新型可以提高晶片研磨质量和成品率,属于晶片加工的技术领域。

技术领域

本实用新型涉及晶片加工的技术领域,特别是涉及一种晶片研磨装置。

背景技术

随着工艺和技术的发展,晶片的用途越来越广泛,有些公司会提出一些超薄晶片的需求,厚度要求在80-150um左右,这就要求研磨工序所使用夹具厚度也相对较低,在常规加工中,夹具厚度低于200um的情况下,夹具在研磨过程中容易发生断齿和破损,造成该夹具内甚至整盘晶片发生碎片,极大的影响了晶片的成品率,研磨成品率仅50%左右。如果选用厚度较厚夹具,就会造成研磨前后晶片厚度变大,同时也需要增加后续抛光的加工掉量,这样会极大的降低超薄晶片加工效率,同时增加了原料和物料成本,造成超薄晶片生产成本变高。

实用新型内容

针对现有技术中存在的技术问题,本实用新型的目的是:提供一种晶片研磨装置,本实用新型可以提高晶片研磨质量和成品率。

为了达到上述目的,本实用新型采用如下技术方案:

一种晶片研磨装置,包括第一磨盘、第二磨盘、夹持在所述第一磨盘和所述第二磨盘之间的夹具、安装在所述夹具上的基座;所述基座具有相互背离设置的第一端面和第二端面,所述第一端面上设有用于晶片卡入的第一装夹凹槽,所述第二端面上设有用于晶片卡入的第二装夹凹槽,所述第一端面上的晶片与所述第一磨盘接触,所述第二端面上的晶片与所述第二磨盘接触。

进一步的是:所述基座呈圆盘状,所述夹具上设有通孔,所述通孔沿着所述第一磨盘至所述第二磨盘的方向贯穿所述夹具,所述通孔的直径与所述基座的直径相等,所述基座安装在所述通孔内。

进一步的是:所述夹具的厚度与所述基座的厚度相等。

进一步的是:所述第一装夹凹槽的深度为100um-180um。进一步的是:所述第二装夹凹槽的深度为100um-180um。

进一步的是:所述第一装夹凹槽的底部到所述第二装夹凹槽底部之间的距离为100um-300um。

进一步的是:所述基座为聚氨酯制造的一体件。

进一步的是:所述第一端面和所述第一装夹凹槽的内壁的连接处设有第一倒圆角,所述第一端面和所述基座的圆周侧面的连接处设有第二倒圆角。

进一步的是:所述第二端面和所述第二装夹凹槽的内壁的连接处设有第三倒圆角,所述第二端面和所述基座的圆周侧面的连接处设有第四倒圆角。

本实用新型与现有技术相比,其有益效果在于:晶片研磨装置可以用于超薄晶片研磨工序加工,晶片研磨装置对夹具的厚度要求低,避免了加工超薄晶片时候对夹具造成破损,晶片研磨装置的基座可以同时夹持两个晶片,提高了超薄晶片研磨工序的成品率,成品率由50%提高到90%左右。

附图说明

图1是晶片研磨装置的结构示意图。

图2是基座的结构示意图。

图3是夹具的结构示意图。

图中,1为第一磨盘,2为第二磨盘,3为夹具,4为基座,5为晶片,31为通孔,41为第一端面,42为第二端面,43为第一装夹凹槽,44为第二装夹凹槽,45为第一倒圆角,46为第二倒圆角,47为第三倒圆角,48为第四倒圆角。

具体实施方式

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