[实用新型]检测设备

说明书

本实用新型涉及电子设备领域，公开了一种检测设备，用于对设置在待测工件的五金件上的弹片进行检测，包括：用于放置所述待测工件的主体部，设置在所述主体部上的第一测试柱和设置在所述主体部上的第二测试柱，与所述第一测试柱和所述第二测试柱电连接的显示组件；所述第一测试柱用于抵靠所述待测工件的五金件与所述待测工件的五金件导通；所述第二测试柱用于抵靠所述弹片以与所述弹片导通；所述显示组件用于指示所述弹片、所述五金件、所述第一测试柱和所述第二测试柱所形成的回路是否导通。本实用新型实施方式所提供的检测设备具有便于对不导通的弹片进行定位的优点。

技术领域

本实用新型涉及电子设备领域，特别涉及一种检测设备。

背景技术

随着科技的发展，各式手持电子设备越来越多的在人们的生活中得到应用，随着用户的使用，手机等电子设备的外壳不断与其它物体摩擦，外壳上会产生静电，而静电的产生不仅会吸附空气中的灰尘而导致电子设备的清洁度较低，甚至还可能对电子设备中的电路产生影响。为了避免电子设备外壳上产生的静电的影响，现有技术中的电子设备中通常设置有多个导电弹片，导电弹片与手机外壳接触，将手机外壳上产生的静电导入电子设备主板上的五金件进行处理。

现有技术中的电子设备在生产的过程中，需要对弹片进行导通测试，保证弹片可以起到导静电的作用。然而，本实用新型的发明人发现，现有技术中进行弹片的导通测试时，需要依次对每一个弹片进行导通测试，过程较为繁杂，或者是同时对所有的弹片进行导通测试，但是如此一来一旦某一个弹片导通测试不通过，会导致整机测试不通过，且难以对具体的不导通的弹片进行定位。

实用新型内容

本实用新型实施方式的目的在于提供一种检测设备，便于对不导通的弹片进行定位。

为解决上述技术问题，本实用新型的实施方式提供了一种检测设备，用于对设置在待测工件的五金件上的弹片进行检测，包括：用于放置所述待测工件的主体部，设置在所述主体部上的第一测试柱和设置在所述主体部上的第二测试柱，与所述第一测试柱和所述第二测试柱电连接的显示组件；所述第一测试柱用于抵靠所述待测工件的五金件与所述待测工件的五金件导通；所述第二测试柱用于抵靠所述弹片以与所述弹片导通；所述显示组件用于指示所述弹片、所述五金件、所述第一测试柱和所述第二测试柱所形成的回路是否导通。

与现有技术相比，本实用新型实施方式所提供的检测设备中通过设置第一测试柱和多个第二测试柱，第一测试柱用于抵靠待测工件的五金件与五金件导通；第二测试柱用于抵靠弹片以与弹片导通，从而对弹片进行检测；此外，设置显示组件用于指示弹片、五金件、第一测试柱和第二测试柱所形成的回路是否导通，从而对各个弹片的导通状态进行确认，便于对不导通的弹片进行定位。

另外，所述第一测试柱的长度可变；所述第一测试柱被所述五金件压持至最小长度时，所述第一测试柱的顶端与所述主体部的距离等于所述第二测试柱的顶端与所述主体部的距离。待测工件设置在主体部上时，高度较高的弹片首先与第二测试柱接触，可能导致高度合格但小于最高高度的弹片无法与第二测试柱接触，因此使用时需要对待测工件进行按压，按压过程中可能对第一测试柱进行压缩，第一测试柱在长度方向上弹性设置可以更好的适应压缩过程，设置第一测试柱处于最小长度时，第一测试柱的顶端与主体部的距离等于第二测试柱的顶端与主体部的距离，即对待测工件的压缩进行限位，从而测试出高度不合格的弹片。

另外，所述第一测试柱为弹簧顶针。

另外，还包括设置在所述主体部上的限位柱；所述限位柱的顶端与所述主体部的距离等于所述第二测试柱的顶端与所述主体部的距离。待测工件设置在主体部上时，高度较高的弹片首先与第二测试柱接触，可能导致高度合格但小于最高高度的弹片无法与第二测试柱接触，因此使用时需要对待测工件进行按压，设置限位柱的顶端与主体部的距离等于第二测试柱的顶端与主体部的距离，即通过限位柱对待测工件的压缩进行限位，从而测试出高度不合格的弹片。