[实用新型]一种芯片收料盒的翻转治具

说明书

本实用新型提供了一种芯片收料盒的翻转治具，包括：治具本体；收料盒限位部，设置在所述治具本体上；凸模，设置在所述治具本体上，所述凸模上设置若干个阵列排布的芯片容置槽。本实用新型的一种芯片收料盒的翻转治具，可通凸模以及收料盒限位部将所述翻转治具与芯片收料盒组合，后通过翻转实现将芯片收料盒内的芯片转移到所述凸模的容置槽内实现芯片的整体翻转，在翻转的过程中完全避免手指触碰到芯片，极大的提高了翻转效率，进一步提高了芯片检测效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，具体涉及一种芯片收料盒的翻转治具。

背景技术

在芯片检测的过程中会根据需要对芯片背面进行检测，由于芯片耐洁净度的需要，目前的检测方法通常使用镊子一个个在芯片收料盒内翻转检测，在批量检测时严重影响检测效率，浪费了有效劳动时间。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型提供一种芯片收料盒的翻转治具，可通凸模以及收料盒限位部将所述翻转治具与芯片收料盒组合，后通过翻转实现将芯片收料盒内的芯片转移到所述凸模的容置槽内实现芯片的整体翻转，在翻转的过程中完全避免手指触碰到芯片，极大的提高了翻转效率，进一步提高了芯片检测效率。

为了实现以上目的，本实用新型采取的一种技术方案是：

一种芯片收料盒的翻转治具，包括：治具本体；收料盒限位部，设置在所述治具本体上；凸模，设置在所述治具本体上，所述凸模上设置若干个阵列排布的芯片容置槽。

进一步地，所述芯片容置槽的开口处设有倒角。

进一步地，所述治具本体设有定位标识，所述定位标识设置在所述治具本体的边框上。

进一步地，所述治具本体还包括手持部，所述手持部相对设置在所述治具本体的两端。

进一步地，所述收料盒限位部包括宽度方向限位部以及长度方向限位部，所述宽度方向限位部相对设置在所述凸模两侧，所述长度方向限位部相对设置在所述凸模两侧。

进一步地，所述收料盒设有凸模容置槽，所述凸模的高度不大于所述凸模容置槽的深度。

本实用新型的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：

本实用新型的一种芯片收料盒的翻转治具，可通凸模以及收料盒限位部将所述翻转治具与芯片收料盒组合，后通过翻转实现将芯片收料盒内的芯片转移到所述凸模的容置槽内实现芯片的整体翻转，在翻转的过程中完全避免手指触碰到芯片，极大的提高了翻转效率，进一步提高了芯片检测效率。

附图说明

下面结合附图，通过对本实用新型的具体实施方式详细描述，将使本实用新型的技术方案及其有益效果显而易见。

图1所示为本实用新型一实施例的芯片收料盒的翻转治具结构图；

图2所示为本实用新型一实施例的芯片收料盒的翻转治具俯视图；

图3所示为本实用新型一实施例的芯片收料盒的翻转治具沿E-E方向的剖视图；

图4所示为图3位置中B处的放大图；

图5所示为本实用新型一实施例的芯片容置槽的放大图。

图中附图标记：

1治具本体、11手持部、21宽度方向限位部、22长度方向限位部、3凸模、31芯片容置槽、4定位标识。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。