[实用新型]一种数字机芯多功能老化测试模块

说明书

本实用新型公开了一种数字机芯多功能老化测试模块，包括处理器模块、16路LVDS KEL座模块、切换开关模块、LVDS转BT1120模块，LCD显示模块、存储模块、电源模块、信息输出模块、FLASH模块及DDR模块，处理器与LVDS转BT1120双向连接，LVDS转BT1120与切换开关双向连接，切换开关与16路LVDS KEL座双向，处理器与LCD显示双向连接，处理器与存储双向连接，处理器与信息输出双向连接。本实用新型具有如下有益效果：提供至多16路数字机芯LVDS视频接入测试，可满足数字机芯关于LVDS信号输出的生产测试。通过图像分析的手段，判定输入的数字信号是否正常，并作记录。

技术领域

本实用新型涉及数字机芯测试领域，尤其涉及的是一种数字机芯多功能老化测试模块。

背景技术

目前广电行业，用到大量的数字机芯，其中以索尼机芯为代表，如FCB-7520，FCB-7310，FCB-6300等200万20倍的数字机芯。该系列机芯输出为索尼定义的LVDS接口，需要通过LVDS转换芯片，转换为BT1120视频信号，再接入HDMI或SDI芯片进行通用的视频接口输出。近些年，因为索尼机芯的价格一直居高不下，国内也有部分厂家进行数字机芯的研发生产，技术上已经比较成熟，但是因为历史的原因，其输出接口还是沿用索尼的LVDS接口。该接口不像HDMI，SDI这类的民用型通用接口，属于专业范畴的接口，在市面上基本买不到通用的对接模块，只能厂家自己生产配套的测试模块。

针对这一问题，数字机芯的生产过程中，需要多台设备同时进行各种测试，其中包括长时间拉流稳定测试，频繁断电测试，冷启测试等，以验证LVDS接口的可靠性。因此，需要一种自动化，满足多种测试项，且有一定数据记录能力的测试模块来简化生产过程，提高生产效率。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种测试效率高和操作简单数字机芯多功能老化测试模块。

本实用新型的技术方案如下：一种数字机芯多功能老化测试模块，包括处理器模块、16路LVDS KEL座模块、切换开关模块、LVDS转BT1120模块，LCD显示模块、存储模块、电源模块、信息输出模块、FLASH模块以及DDR模块，所述电源模块给处理器模块供电，所述处理器模块与LVDS转BT1120模块双向连接，所述LVDS转BT1120模块与切换开关模块双向连接，所述切换开关模块与16路LVDS KEL座模块双向，所述处理器模块与LCD显示模块双向连接，所述处理器模块与存储模块双向连接，所述处理器模块与信息输出模块双向连接，所述处理器模块与FLASH模块双向连接，所述处理器模块与DDR模块双向连接。

采用上述技术方案，所述的数字机芯多功能老化测试模块中，所述处理器模块的主控芯片型号为HI3536V100。

采用上述各个技术方案，所述的数字机芯多功能老化测试模块中，所述处理器模块设置有主控芯片电路。

采用上述各个技术方案，所述的数字机芯多功能老化测试模块中，所述LVDS转BT1120模块设置有LVDS转BT1120电路。

采用上述各个技术方案，所述的数字机芯多功能老化测试模块中，所述信息输出模块设置有串口/网络输出电路。

采用上述各个技术方案，本实用新型具有如下有益效果：

1.提供至多16路数字机芯LVDS视频接入测试。

2.通过多种测试模式设置，可以满足数字机芯关于LVDS信号输出的生产测试。

3.通过图像分析的手段，判定输入的数字信号是否正常，并作记录。

4.测试结果直观显示，具有测试数据汇总输出功能。

附图说明

图1为本实用新型的模块连接示意图；

图2为本实用新型的原理流程示意图；