[实用新型]一种气体探测装置

权利要求书

1.一种气体探测装置，其特征在于，包括：

一个激光器，用于发射探测激光束；

一个探测气室，设置于所述探测激光束的传输光路，用于容置待测气体；

一个参考气室，设置于所述探测激光束的传输光路，与所述探测气室相互独立设置或者设置于所述探测气室内部，用于密封参考气体；

一个光探测器，用于接收透过所述待测气体和所述参考气体的探测激光束并转换为电信号；

一个激光器驱动单元，与所述激光器和所述光探测器连接，用于根据所述电信号反馈控制所述激光器的工作参数，以调节所述探测激光束的中心波长，使所述待测气体的吸收峰波长在所述探测激光束的中心波长范围内；

一个信号处理单元，与所述光探测器连接，用于根据所述电信号获得所述待测气体的浓度。

2.如权利要求1所述的气体探测装置，其特征在于，所述激光器包括：

第一封装壳体，内部形成有第一密闭腔体且一端设置有第一透光窗，所述第一密闭腔体用于作为所述参考气室，所述第一透光窗用于透过所述探测激光束；

激光器芯片，设置于所述参考气室中且与所述第一透光窗相对。

3.如权利要求1所述的气体探测装置，其特征在于，所述光探测器包括：

第二封装壳体，内部形成有第二密闭腔体且一端设置有第二透光窗，所述第二密闭腔体用于作为所述参考气室，所述第二透光窗用于透过所述探测激光束；

光探测器芯片，设置于所述参考气室中且与所述第二透光窗相对。

4.如权利要求1所述的气体探测装置，其特征在于，所述参考气室包括：

第三封装壳体，内部形成有第三密闭腔体且相对的两端分别设置有第三透光窗和第四透光窗，所述第三密闭腔体用于密封所述参考气体，所述第三透光窗和所述第四透光窗用于透过所述探测激光束；

或者，第四封装壳体，内部形成有第四密闭腔体且相对的两端分别设置有第一反射镜和第五透光窗，所述第四密闭腔体用于密封所述参考气体，所述第一反射镜用于反射所述探测激光束以实现对所述探测激光束的光程折叠，所述第五透光窗用于透过所述探测激光束。

5.如权利要求1所述的气体探测装置，其特征在于，所述探测气室包括：

第二反射镜；

第三反射镜，与所述第二反射镜相对设置形成开放式腔体，所述第二反射镜和第三反射镜所述用于反射探测激光束以实现对所述探测激光束的光程折叠。

6.如权利要求5所述的气体探测装置，其特征在于，所述第二反射镜和所述第三反射镜都为凹面反射镜且二者的主光轴重合，所述第二反射镜设置有第六透光窗，所述第三反射镜设置有第七透光窗。

7.如权利要求5所述的气体探测装置，其特征在于，所述第二反射镜由第一平面反射镜和第二平面反射镜构成，所述第三反射镜为凹面反射镜，所述第一平面反射镜垂直于所述第三反射镜的主光轴，所述第二平面反射镜相对于第一平面反射镜倾斜设置。

8.如权利要求5至7任一项所述的气体探测装置，其特征在于，所述探测气室还包括第五封装壳体，内部形成有第五密闭腔体且两端分别设置有所述第二反射镜和所述第三反射镜，所述第五密闭腔体用于密封所述待测气体，所述探测气室的压强与参考气室的压强相同。

9.如权利要求1至7任一项所述的气体探测装置，其特征在于，所述探测气室为自由空间或包括开放式腔体，所述参考气室的压强设置为1个大气压。

10.如权利要求1至7任一项所述的气体探测装置，其特征在于，所述工作参数包括工作温度、偏置电流或偏置电压。