[实用新型]一种微秒级真空弧离子源能谱分析仪装置有效

专利信息
申请号: 202022124061.2 申请日: 2020-09-24
公开(公告)号: CN212392211U 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 罗先文 申请(专利权)人: 桂林理工大学
主分类号: H01J49/24 分类号: H01J49/24;H01J49/12;H01J49/02;G01T1/36
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 李朝虎
地址: 541000 广西壮*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 微秒 真空 离子源 谱分析 装置
【权利要求书】:

1.一种微秒级真空弧离子源能谱分析仪装置,其特征在于,包括一个金属外壳(1),所述金属外壳(1)的顶部有一顶部开口(10),底部有一开口朝向顶部的凹形底部固定筒(7),凹形底部固定筒(7)的开口处设置有圆环状的压环(6);所述金属外壳(1)的内部由顶部开口(10)一侧向内依次设置有引出电极(2)、栅网(4)、收集极(9),以及将引出电极(2)、栅网(4)、收集极(9)隔开并固定的多片绝缘限位板(3),所述多片绝缘限位板(3)之间形成腔体。

2.根据权利要求1所述的一种微秒级真空弧离子源能谱分析仪装置,其特征在于,所述底部固定筒(7)为外侧带螺纹的圆筒状结构,通过螺纹拧紧固定到金属外壳(1)上;所述底部固定筒(7)的底部一侧的中心位置有通孔(11),所述通孔(11)突出至金属外壳(1)外部。

3.根据权利要求1所述的一种微秒级真空弧离子源能谱分析仪装置,其特征在于,所述引出电极(2)的中心位置有一个锥形开口(12),顶部开口(10)与引出电极(2)形成等离子体扩散区,在引出电极(2)中心的锥形开口(12)形成离子流发射面。

4.根据权利要求1所述的一种微秒级真空弧离子源能谱分析仪装置,其特征在于,所述金属外壳(1)的顶部开口(10)的内侧剖面为阶梯状结构,引出电极(2)和金属外壳(1)的顶部开口(10)之间设置有一片绝缘限位板(3)。

5.根据权利要求1所述的一种微秒级真空弧离子源能谱分析仪装置,其特征在于,所述多片绝缘限位板(3)的剖面为阶梯状结构;多片绝缘限位板(3)均打有四个通孔,对应的通孔之间对齐,通孔内固定有固定螺钉(8),多片绝缘限位板(3)通过固定螺钉(8)固定为一个整体。

6.根据权利要求1所述的一种微秒级真空弧离子源能谱分析仪装置,其特征在于,所述收集极(9)的外侧两端设置有馈电螺钉(5)。

7.根据权利要求1所述的一种微秒级真空弧离子源能谱分析仪装置,其特征在于,所述金属外壳(1)的形状呈圆筒状。

8.根据权利要求1所述的一种微秒级真空弧离子源能谱分析仪装置,其特征在于,所述顶部开口(10)的形状为正方形。

9.根据权利要求1所述的一种微秒级真空弧离子源能谱分析仪装置,其特征在于,所述栅网(4)的个数为三个。

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