[实用新型]能实现光电双路400G PAM4检测的误码测试仪有效
申请号: | 202022094876.0 | 申请日: | 2020-09-22 |
公开(公告)号: | CN212677167U | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 向刚;丁征;狄旭明 | 申请(专利权)人: | 四川华拓光通信股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369 | 代理人: | 贾晓燕 |
地址: | 621000 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 实现 光电 400 pam4 检测 测试仪 | ||
本实用新型公开了一种能实现光电双路400G PAM4检测的误码测试仪,包括:采用400G PAM4以兼容802.3bs标准、200GAUI‑8标准、10G定义的DSP收发器;分别与DSP收发器的HOST端、LINE端连接的光接口、电接口;其中,所述DSP收发器通过与其连接MCU形成数据上报链路,并通过USB通信接口与上位机连接。本实用新型提供一种能实现光电双路400G PAM4检测的误码测试仪,其能实现双路400G PAM4误码仪的设计,相对于现有技术而言增加一个测试通道,提高测试效率,且结构简单,体积小,设备成本可控,且操作简便,易于实现,适应范围广。
技术领域
本实用新型涉及光通信领域。更具体地说,本实用新型涉及一种用在光通信检测情况下使用的能实现光电双路400G PAM4检测的误码测试仪。
背景技术
目前市场上已经有的400G误码分析仪,一种是德科技或者泰克这些专业测试设备公司生产的专业测试仪器,可以设置参数多,但是价格昂贵;另外一种相对成本低廉的ASIC方案设计的400G误码仪,但是都是只有电口,或者只有光口,只有一个测试通道,一次只能对一个被测件进行测试,适应范围窄,不能满足实际的使用需要。
实用新型内容
本实用新型的一个目的是解决至少上述问题和/或缺陷,并提供至少后面将说明的优点。
为了实现根据本实用新型的这些目的和其它优点,提供了一种能实现光电双路400G PAM4检测的误码测试仪,包括:
采用400G PAM4以兼容802.3bs标准、200GAUI-8标准、10G定义的 DSP收发器;
分别与DSP收发器的HOST端、LINE端连接的光接口、电接口;
其中,所述DSP收发器通过与其连接MCU形成数据上报链路,并通过 USB通信接口与上位机连接。
优选的是,所述电接口被配置为采用2*8的电口,以与LINE端的第一 TX端、第一RX端连接。
优选的是,所述光接口被配置为采用QSFPDD接口,以与HOST端的第二TX端、第二RX端连接。
优选的是,还包括与DSP收发器连接的电源模块以及外部参考时钟源。
优选的是,所述DSP收发器被配置为采用INPHI公司的IN015050芯片。
本实用新型至少包括以下有益效果:其一,本实用新型利用收发器两端的诊断功能,将一端设计成光口,另外一端设计成电口,实现双路400G PAM4 误码仪的设计,相对于现有技术而言增加一个测试通道,提高测试效率,降低设备成本。
其二,本实用新型的误码仪与上位机进行配合完成对设备或测试板等的误码检测,其结构简单,体积小,设备成本可控,且操作简便,易于实现,适应范围广。
本实用新型的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现,部分还将通过对本实用新型的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
附图说明
图1为本实用新型的一个实施例中的双路400G PAM4误码仪系统设计框图;
图2说明的是IN015050芯片的API接口的信号往来示意图;
图3为本实用新型中IN015050芯片的内部功能框图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明,以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。
应当理解,本文所使用的诸如“具有”、“包含”以及“包括”术语并不配出一个或多个其它元件或其组合的存在或添加。
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