[实用新型]一种基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构

说明书

本实用新型涉及基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构，包括光源组件、匀光光路、DMD芯片和镜头模组；光源组件包括激光光源和激光处理光路；匀光光路包括积分柱和成像镜组；镜头模组为沙姆镜头；采用激光光源，并将经由激光处理光路处理后的光束打在积分柱的入口处，经过积分柱内部的多次反射，最终在积分柱出口处形成一个亮度均匀的光斑，该光斑经过成像镜组在DMD芯片上成像出一个亮度均匀的矩形光斑，保证超高亮度的同时兼顾整体体积以及成本，使得散热器可以做得小巧，也不需要风扇散热，避免了振动；且DMD芯片的内部是由机械铰链和微型铝镜等物理结构构成，蓝光并不会影响其寿命。

技术领域

本实用新型涉及AOI检测技术领域，更具体地说，涉及一种基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构。

背景技术

目前AOI(Automated Optical Inspection)自动光学检测领域大多是使用LCOS芯片作为显示元器件。LCOS芯片是偏振器件，存在的一个必要过程是将LED发出的自然光转化成线偏振光，这个过程亮度会损失50％左右，导致整体系统亮度不足。例如实用新型专利CN203178659U就是使用LCOS投影的一个例子。

目前市场上解决LCOS亮度不足的缺陷主要依靠提升LED的输入功率，这就需要增大LED的散热体积和使用散热风扇，这两个解决方案不仅使得系统体积增大，成本上升，同时风扇工作时的振动引起的投影画面抖动还会形成检测的噪声，导致算法复杂程度上升和信噪比的降低。

此外，还存在LCOS中的液晶分子在蓝光波段下容易发生老化，容易对LCOS 造成不可逆的损伤和可靠性的下降的问题。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

构造一种基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构，其中，包括光源组件、匀光光路、DMD芯片和镜头模组；所述光源组件包括激光光源和对其出射光线处理的激光处理光路；所述匀光光路包括对所述激光处理光路的出射光线进行匀光的积分柱，和成像镜组；所述积分柱的出射光斑经过所述成像镜组后，在所述DMD芯片处形成一个共轭光斑；所述DMD芯片的出射光线在所述镜头模组上成像，所述镜头模组为沙姆镜头，所述DMD芯片的有效面所在平面、所述沙姆镜头的垂线和所述沙姆镜头的投影面的角度之间满足沙姆定律。

本实用新型所述的基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构，其中，还包括RTIR棱镜组，所述RTIR棱镜组用于调节所述成像镜组的出射光线角度，并将所述DMD芯片的出射光线反射至所述镜头模组上成像。

本实用新型所述的基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构，其中，所述RTIR棱镜组包括呈等腰直角三角形的主棱镜，所述主棱镜的一直角面与所述DMD芯片的有效面存在夹角，所述夹角范围为1-5度。

本实用新型所述的基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构，其中，所述RTIR棱镜组包括调节所述主棱镜的入射光线角度的补偿棱镜。

本实用新型所述的基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构，其中，所述激光处理光路包括对激光光束压缩的激光扩束光路，和对所述激光扩束光路的出射光线进行会聚成光斑的会聚光路。

本实用新型所述的基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构，其中，所述激光扩束光路包括对所述激光光源发出的平行光进行会聚的正透镜，和所述正透镜会聚后光线重新发散成平行光的负透镜。

本实用新型所述的基于DLP技术的AOI检测超高亮低成本光路结构，其中，所述激光处理光路还包括散斑消除组件；所述散斑消除组件包括破坏激光光束原有的相干性的扩散片，和带动其旋转的电机。