[实用新型]一种基于分相同步检验的二次回路验证装置有效
| 申请号： | 202022064246.9 | 申请日： | 2020-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN213457324U | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 郑涛;苏彭鹏;张诗鹏;张振兴;卓颖;付晓曦;林圣;邱平;叶贤成 | 申请（专利权）人： | 国网福建省电力有限公司检修分公司 |
| 主分类号： | G01R31/67 | 分类号： | G01R31/67;G01R29/16;G01R15/22 |
| 代理公司： | 福州科扬专利事务所(普通合伙) 35001 | 代理人： | 李晓芬 |
| 地址： | 350013 福建省福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相同 检验 二次 回路 验证 装置 | ||
1.一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：包括开入信号检测装置(1)、总电源(2)、MCU(3)以及接线端子排(4)；所述总电源(2)分别与所述开入信号检测装置(1)、所述MCU(3)电连接；所述MCU(3)包括主CPU(31)、LED驱动电路(32)以及LED灯组(33)；所述LED驱动电路(32)与所述主CPU(31)、所述LED灯组(33)电连接；所述开入信号检测装置(1)包括分别独立设置的A相开入检测光耦(11)、B相开入检测光耦(12)、C相开入检测光耦(13)以及三跳开入检测光耦(14)；所述A相开入检测光耦(11)、所述B相开入检测光耦(12)、所述C相开入检测光耦(13)以及所述三跳开入检测光耦(14)分别与所述接线端子排(4)、所述主CPU(31)电连接；所述LED灯组(33)上分别对应所述A相开入检测光耦(11)、所述B相开入检测光耦(12)、所述C相开入检测光耦(13)以及所述三跳开入检测光耦(14)各设置有LED灯。
2.根据权利要求1所述基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：还包括一隔离电源(21)；所述总电源(2)与所述隔离电源(21)电连接；所述隔离电源(21)与所述开入信号检测装置(1)电连接。
3.根据权利要求1所述基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：所述A相开入检测光耦(11)、所述B相开入检测光耦(12)、所述C相开入检测光耦(13)以及所述三跳开入检测光耦(14)均采用PC817光耦。
4.根据权利要求1所述基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：所述主CPU(31)采用89C52芯片。
5.根据权利要求2所述基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：所述隔离电源(21)采用24V直流隔离电源。
6.根据权利要求1所述基于分相同步检验的二次回路验证装置，其特征在于：所述LED驱动电路(32)采用74HC573芯片。
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