[实用新型]一种金相显微镜小试样测量装置有效

专利信息
申请号: 202021929189.X 申请日: 2020-09-07
公开(公告)号: CN213517733U 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 王志慧 申请(专利权)人: 包头钢铁(集团)有限责任公司
主分类号: G02B21/34 分类号: G02B21/34
代理公司: 北京律远专利代理事务所(普通合伙) 11574 代理人: 穆云
地址: 014010 内*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要:
搜索关键词: 一种 金相 显微镜 试样 测量 装置
【说明书】:

实用新型提供了一种金相显微镜小试样测量装置,属于金属材料检测领域。该小试样测量装置,包括双头螺丝、铁片挡片和铁片;所述铁片的一端与所述双头螺丝活动连接,所述铁片能够围绕所述双头螺栓上下移动和360度旋转,所述铁片的另一端与所述铁片挡片连接。本实用新型提供的金相显微镜小试样测量装置,能够避免金相倒置显微镜在检测小试样时,由于的试样太小掉落造成物镜的损坏,保证物镜的安全,具有显著的经济效益。

技术领域

本实用新型属于金属材料检测领域,具体为一种金相显微镜小试样测量装置。

背景技术

电脑型金相显微镜或数码金相显微镜是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成的高科技产品,可以在计算机上很方便地观察金相图像,从而对金相图谱进行分析

金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支,既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征,亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷(例如位错)的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。

现有技术中金相倒置显微镜在检测小试样时,由于试样的观察表面应朝下,试样太小可能造成试样从中间孔洞掉下损坏物镜。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种金相显微镜小试样测量装置,所述小试样测量装置能够够避免金相倒置显微镜在检测小试样时,由于的试样太小掉落造成物镜的损坏,保证物镜的安全。

为了实现上述实用新型的目的,本实用新型提供以下技术方案:

一种金相显微镜小试样测量装置,包括双头螺丝、铁片挡片和铁片;所述铁片的一端与所述双头螺丝活动连接,所述铁片能够围绕所述双头螺丝上下移动和360度旋转,所述铁片的另一端与所述铁片挡片连接。

优选地,所述铁片和所述双头螺丝环形连接,所述铁片和所述铁片挡片焊接。

优选地,所述双头螺丝的长度为5mm,所述铁片的长为10mm,宽为8mm,所述铁片挡片的长为30mm,宽为20mm。

本实用新型相对于现有技术,具有如下的有益效果:

本实用新型提供的金相显微镜小试样测量装置,利用铁片和双头螺丝活动链接,并能够上下移动和360度旋转,铁片与铁片挡片进行连接后,能够避免金相倒置显微镜在检测小试样时,由于的试样太小掉落造成物镜的损坏,保证物镜的安全。

金相显微镜装置该金相显微镜小试样测量装置后,可有效减少因试样掉落造成物镜的损坏,使得金相显微镜使用频率增大,降低设备故障率80%。降低事故时间516小时/年。节省备品备件、维修费用100000元/年。

附图说明

图1为本实用新型安装于载物台上的示意图;

图1中,1.双头螺丝,2.铁片,3.铁片挡片,4.载物台;

图2为本实用新型安装于载物台上的主视图;

图2中,1.双头螺丝,4.载物台。

具体实施方式

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