[实用新型]能够减少误差的超声波测厚仪

说明书

本实用新型涉及测量仪器技术领域，具体地说，涉及一种能够减少误差的超声波测厚仪。其包括检测仪本体，与所述检测仪本体外壳一体成形的壳架，所述壳架为“U”形结构，所述壳架包括底架，所述底架两端设有一体成形的支架，所述支架内部设有一端开口的通孔，所述支架上底和下底设有通槽，所述通槽与通孔连通，所述通孔内部设有刀体。本实用新型使用时，刀头通过转柱的转动与底架平行，再将刀头旋转卡进凹槽中利用插柱插孔进行固定，使两边的刀头组合形成一个铲刀，便于对工件粗糙表面进行加工打磨，而刀头侧面设有锉板对超声波测厚仪探头进行磨平，从被测物和仪器本身两方面对精度进行保障。

技术领域

本实用新型涉及测量仪器技术领域，具体地说，涉及一种能够减少误差的超声波测厚仪。

背景技术

超声波测厚仪是根据使用探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度，如果须检测的工件外表面粗糙程度过大，或者有油漆之类的附着物，会使超声波测厚仪探头与接触面耦合效果不好，影响测量精度，而探头接触面长时间使用时的磨损，也会致使灵敏度降落，造成显示不正确，因此需要额外另置打磨工具，使用人员使用时若因缺乏打磨工具而直接进行测量，会使测量值与实际尺寸造成偏差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种能够减少误差的超声波测厚仪，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供一种能够减少误差的超声波测厚仪，包括检测仪本体，与所述检测仪本体外壳一体成形的壳架，所述壳架为“U”形结构，所述壳架包括底架，所述底架两端设有一体成形的支架，所述支架内部设有一端开口的通孔，所述支架上底和下底设有通槽，所述通槽与通孔连通，所述通孔(2120)内部设有刀体。

作为本技术方案的进一步改进，所述底架底面设有凹槽，所述凹槽中部设有两个一体成形的插柱。

作为本技术方案的进一步改进，所述刀体包括转轴，所述转轴内侧固定连接的弹簧，所述弹簧另一端与通孔内端固定连接，所述转轴外侧设有刀头。

作为本技术方案的进一步改进，所述转轴包括轴柱和转杆，所述轴柱包括两个柱体，两个所述柱体之间设有一体的连接柱，所述连接柱两个端头穿出柱体外底，所述连接柱端头设有一体的卡柱。

作为本技术方案的进一步改进，所述转杆包括转柱，所述转柱一侧依次设有一体成形的挡柱、穿杆、挡环，所述转柱为环形柱状结构，所述连接柱穿过转柱。

作为本技术方案的进一步改进，所述刀头内部设有水平方向贯穿的穿孔，所述刀头上底面设有插孔，所述插孔与插柱插接配合。

作为本技术方案的进一步改进，所述刀头侧面设有一体的锉板。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

1、通过设置可伸缩的刀体，刀体的刀头通过转柱的转动与底架平行，再将刀头旋转卡进凹槽中利用插柱插孔进行固定，使两边的刀头组合形成一个铲刀，便于对工件粗糙表面进行加工打磨，从而避免因缺少工具而人为疏漏造成的测试结果偏差。

2、通过刀头侧面设置的锉板，可以对超声波测厚仪探头进行磨平，避免探头的磨损和粗糙造成精度偏差。

附图说明

图1为实施例1的整体结构示意图；

图2为实施例1的壳架结构示意图；

图3为实施例1的竖架结构示意图；

图4为实施例1的刀体结构示意图；

图5为实施例1的刀体拆分示意图；

图6为实施例1的底架结构示意图。

图中各个标号意义为：