[实用新型]一种基于侧式多角度光源结构的光学检测系统

说明书

本实用新型涉及一种基于侧式多角度光源结构的光学检测系统，包括依次设置的水平旋转平台、可调侧光源结构、图像获取装置、图像存储装置及图像处理装置，该水平旋转平台可带动待测物体沿水平方向进行旋转，基于增设的水平旋转平台，从而便于CCD相机获取待测物体在不同水平旋转角度下的灰阶图像，此时可将固定的反光区域屏蔽，然后将个灰阶图像的非屏蔽区域与预设的灰阶图像进行比较，从而判定待测物体是否出现瑕疵以及具体瑕疵的位置，避免了传统的采用单边侧式光源模块及采用双边侧式光源模块进行光学检测的弊端，防止漏检的情况发生。

技术领域

本实用新型涉及技术光学检测领域，特别涉及一种基于侧式多角度光源结构的光学检测系统。

背景技术

自动光学检测(Automatic Optical Inspection；AOI)系统，即运用高分辨率CCD、图像撷取、实时图像分析技术所开发的机器视觉设计方案，用以进行大量、精确生产线之产品良率判断用途；运用摄像头取代人眼目视验证改善生产方式，目前已是各家光学检测厂商戮力于此之技术，但是当前技术仍以传统算法法则搭配基础的光机模式来对应外观瑕疵的判定基准，具有较封闭与较高阶的门槛，因此仍存在如下缺陷：

(1)外观检查的领域中，通常会结合人眼的评断为基础，而人眼判定存在疲劳、情绪上的风险，因此对于机器检查后的复判有误判的风险；

(2)产品上的瑕疵属于不规则的物体，因此对于环境上的洁净度要求是有一定的水平，若环境中粉层异物过多，会造成过筛率上升；

(3)检查标准很难有统一的标准，如上述说明:因为瑕疵为不规则物体之外，还有其特征为深浅、方向性等等，因此在判定上仍是由人为主观认定，而不是机器认定；

(4)光学检测过程中，若采用单边侧式光源模块，最容易产生的问题为出现大面积的反光区域而造成瑕疵若刚好落在此区域内就会造成死角发生漏检的问题；若采用双边侧式光源模块，可以将反光区域极小化区域，再利用反光区域会在固定地方出现的现象，将此区域屏蔽；但仍有机会造成瑕疵在此出现而产生漏检的风险。

针对上述存在的问题，本实用新型研制了一种基于侧式多角度光源结构的光学检测系统，以解决现有技术中存在的问题，经检索，未发现与本实用新型相同或相似的技术方案。

实用新型内容

本实用新型目的是：提供一种基于侧式多角度光源结构的光学检测系统，以解决现有技术中在光学检测时易出现瑕疵漏检的问题。

本实用新型的技术方案是：一种基于侧式多角度光源结构的光学检测系统，包括依次设置的水平旋转平台、可调侧光源结构、图像获取装置、图像存储装置及图像处理装置；其中：

所述水平旋转平台用以放置待测物体，并可沿竖直的中轴线方向实现升降及360°旋转；

所述可调侧光源结构用以斜向光线照射待测物体，并产生反射光；

所述图像获取装置包括镜头及CCD相机，所述镜头用于对准放置在旋转平台上的待测物体，并对获取的图像精度进行调节；所述CCD相机用以接收反射光，并得到对应的灰阶图像信息；

所述图像存储装置用于存储待测物体在水平旋转平台不同的旋转角度下的灰阶图像信息以及预设的灰阶图像信息；

所述图像处理装置用于根据灰阶图像信息判断待测物体是否存在瑕疵，并输出瑕疵检测结果。

优选的，所述图像存储装置用于存储待测物体通过水平旋转平台旋转0°、90°、180°及270°时的灰阶图像信息，所述图像处理装置用于对各灰阶图像信息进行比较并确定瑕疵。

优选的，所述可调侧光源结构共设置两个，并分设在水平旋转平台上端两侧，下端为光源发射端，并对准放置在旋转平台上的待测物体。