[实用新型]一种氮化硅陶瓷工程材料粒度筛分检测装置有效

专利信息
申请号: 202021787499.2 申请日: 2020-08-25
公开(公告)号: CN213967583U 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 巩甘雷;吕凤鸣;杜怀玉 申请(专利权)人: 河南烨达新材科技股份有限公司
主分类号: B07B1/28 分类号: B07B1/28;B07B1/42;B07B1/46
代理公司: 郑州浩翔专利代理事务所(特殊普通合伙) 41149 代理人: 孔丽丽
地址: 452370 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 氮化 陶瓷 工程 材料 粒度 筛分 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种氮化硅陶瓷工程材料粒度筛分检测装置,其特征在于:包括工作台(16)、设置在工作台(16)上的机箱(1)、设置在机箱(1)外的筛分装置以及设置在机箱(1)内的驱动筛分装置晃动的驱动装置;所述机箱(1)的右侧壁上设有开口,驱动装置上设置有延伸至开口外部并与所述筛分装置连接的连接块(20);所述筛分装置包括与连接块(20)固定连接的支撑柱(8),与支撑柱(8)下部焊接固定的支撑环(11),以及卡设在支撑环(11)上的筛框组;所述筛框组由若干从上到下目数逐渐增大的筛框(10)配合组成,最上端的筛框(10)中放置有物料;所述支撑柱(8)的上部设置有螺纹,所述筛框(10)的顶部设置有与其匹配的环形压块(9),所述环形压块(9)的侧壁上设置有与套装在支撑柱(8)上的固定环(25),所述固定环(25)的上方设置有与支撑柱(8)的螺纹匹配的用于固定环形压块(9)的固定螺母(24)。

2.如权利要求1所述的一种氮化硅陶瓷工程材料粒度筛分检测装置,其特征在于:所述驱动装置包括设置在机箱(1)的底板上的电机(19)、与电机(19)输出端连接的具有折弯段的转轴(18)、以及通过轴承套设在转轴(18)的折弯段的固定块(17),所述转轴(18)另一端可转动的固定在机箱(1)的顶板上,所述连接块(20)与所述固定块(17)焊接固定。

3.如权利要求2所述的一种氮化硅陶瓷工程材料粒度筛分检测装置,其特征在于:所述转轴(18)的上部连接有用于拍打筛分装置的拍打组件;所述拍打组件包括固定套接在转轴(18)上部的主动锥齿轮(7),与主动锥齿轮(7)啮合的从动锥齿轮(6),贯穿机箱(1)的顶板的支撑组件,以及用于拍打环形压块(9)的中心部位的拍打部;从动锥齿轮(6)的中心轴(14)与机箱(1)的底板平行并通过轴承固定在机箱(1)的左侧板上,从动锥齿轮(6)的中心轴(14)上固定套接有偏心轮(15),所述支撑组件对应设置在偏心轮(15)的上方;所述支撑组件包括与偏心轮(15)的外周面对应的支撑方杆(13),所述支撑方杆(13)贯穿机箱(1)的顶板,其上端连接有位于机箱(1)外部的支撑块(12);机箱(1)的顶板上设置有固定座(3),所述固定座(3)上端铰接有连接杆(4),所述连接杆(4)的另一端固定连接有拍打部;所述固定座(3)位于所述支撑组件的左侧,所述连接杆(4)位于所述支撑组件的上方。

4.如权利要求3所述的一种氮化硅陶瓷工程材料粒度筛分检测装置,其特征在于:所述支撑块(12)的右侧固定连接有向右倾斜的支杆(5),所述支杆(5)位于所述连接杆(4)的下方。

5.如权利要求1所述的一种氮化硅陶瓷工程材料粒度筛分检测装置,其特征在于:所述支撑环(11)内壁上设有用于卡装筛框(10)的环形凸缘;所述环形压块(9)的底面上开设有用于卡接筛框(10)的环形凹槽。

6.如权利要求1所述的一种氮化硅陶瓷工程材料粒度筛分检测装置,其特征在于:所述支撑柱(8)的下端焊接固定有限位环(21);所述工作台(16)上固定有U型固定件(23),所述U型固定件(23)位于所述筛分装置的右侧,且开口朝向筛分装置,所述U型固定件(23)的开口处设置有限位杆(22),所述限位环(21)的右端位于所述U型固定件(23)中,且所述限位环(21)套设在所述限位杆(22)上。

7.如权利要求1所述的一种氮化硅陶瓷工程材料粒度筛分检测装置,其特征在于:所述工作台(16)上设有隔音材料制作的隔音罩(2),所述隔音罩(2)的侧壁上开设有用铰链连接的操作门。

8.如权利要求3所述的一种氮化硅陶瓷工程材料粒度筛分检测装置,其特征在于:所述拍打部的下端为圆球结构。

9.如权利要求3所述的一种氮化硅陶瓷工程材料粒度筛分检测装置,其特征在于:所述偏心轮(15)的外周面上设置有弧形槽,所述支撑方杆(13)的下端与所述弧形槽配合。

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