[实用新型]一种半自动测试探针磨尖机

说明书

本实用新型公开一种半自动测试探针磨尖机，包括安装于工作台上的载料直线驱动机构、旋转驱动机构、磨尖驱动机构和位移驱动机构。通过载料直线驱动机构带动探针沿X轴方向移动，工程塑料压块与探针抵接带动探针旋转，同时工程塑料压块以X轴垂直方向上下移动，进一步防止探针旋转出载料台；承载探针的载料台内设有与探针适配的挡料块，限制探针在放置槽内旋转，避免探针旋转过程中出现堆积；载料台与位移驱动机构两者配合调整磨砂轮与探针的接触角度，将探针端部打磨成所需的锥型或弧型。本实用新型保证磨尖机对每一探针的作用力都相同，使探针端部打磨角度、打磨长度一致，提高探针打磨精度，以及产品良率。

技术领域

本实用新型涉及磨尖机技术领域，特别涉及一种半自动测试探针磨尖机。

背景技术

在电路板自动测试系统中，测试装置通过控制探针接触被测电路板上的测试点提取信号完成测试。电路板上通常包含多个测试点，随着电路板技术的不断发张，电路板逐渐向高精度、高密度和高可靠性方向发展，体积不断缩小，电路板上相邻两测试点间距也同步缩小，因此对测试电路板的测试探针要求却来越高，测试探针主体直径要求尽可能小，便于测试探针密集安装、提高测试精度。现有技术中，将探针端部进一步打磨成锥型或弧型还可进一步提高测试精度。由于测试探针主体较细，批量旋转打磨测试探针时，测试探针难以限位，测试探针容易向磨尖机的磨砂轮方向移动，导致打磨后的测试探针长短不一，降低生产合格率。

实用新型内容

本实用新型提出一种半自动测试探针磨尖机，旨在优化磨尖机结构，批量打磨测试探针，提高测试探针加工稳定性。

为实现上述目的，本实用新型提出的一种半自动测试探针磨尖机，包括工作台，所述工作台上设有用于带动探针沿X轴方向移动的载料直线驱动机构、用于旋转所述探针的旋转驱动机构、用于打磨所述探针的磨尖驱动机构，以及用于调整探针打磨角度的位移驱动机构；

所述载料直线驱动机构驱动端沿X轴方向设置，所述载料直线驱动机构驱动端还设有一载料台，若干所述探针沿Y轴方向可旋转地并排放置于所述载料台上，所述旋转驱动机构驱动端设有一工程塑料压块，所述工程塑料压块以X轴垂直方向上下移动，且所述工程塑料压块表面与所述探针主体滑动抵接，所述磨尖驱动机构驱动端设有一磨砂轮，所述磨砂轮与所述工程塑料压块对接，所述磨砂轮也以X轴为中心旋转，且所述磨砂轮与所述探针端部摩擦抵接，所述磨尖驱动机构安装于所述位移驱动机构驱动端，所述磨砂轮通过所述位移驱动机构沿Y轴方向和Z轴方向移动，改变所述磨砂轮与所述探针端部抵接角度。

优选地，所述载料直线驱动机构为直线驱动气缸，所述载料台安装于所述直线驱动气缸驱动端。

优选地，所述载料台包括固定安装于所述载料直线驱动机构驱动端的支撑件，以及与所述支撑件适配的挡料块，所述档针块高度小于所述探针直径；所述工程塑料压块下压于所述挡料块与所述探针滑动抵接。

优选地，所述旋转驱动机构包括一第一驱动气缸，以及安装于所述第一驱动气缸驱动端的第一驱工程塑料，所述第一驱气缸通过第一安装块连接。

优选地，所述磨尖驱动机构包括一第二驱动电机，以及安装于所述第二驱动电机驱动端的第二驱动轮、安装于所述磨砂轮其中一端的第二从动轮，所述第二驱动轮与所述第二从动轮通过一第二同步带连接。

优选地，所述位移驱动机构包括水平滑板、上下滑板、Y轴调节杆以及Z 轴调节杆，所述磨尖驱动机构安装于所述水平滑板上，所述水平滑板通过两对称安装的水平导轨滑动安装于所述工作台上，两所述水平导轨端部垂直设有一横板，所述横板上设有第一安装孔，所述Y轴调节杆穿设于所述第一安装孔，并套设于所述水平滑板上的一第一套筒内，所述Y轴调节杆和第一套筒之间通过第一螺纹连接，所述第一安装孔端部还设有一用于限制Y轴调节杆沿Y轴方向移动的第一挡块；

所述上下滑板通过两对称安装孔安装于所述水平滑板上，所述上下滑板垂直安装于所述水平滑板上，使所述水平滑板和上下滑板可以水平上下移动。