[实用新型]一种电路板检测机构

说明书

本实用新型公开了一种电路板检测机构，包括：固定座、升降座、升降驱动组件和检测组件，升降驱动组件安装于固定座上，升降驱动组件用于驱动升降座相对于固定座上下移动；检测组件包括两个检测架、两个电极探针，两个电极探针一一对应安装于两个检测架上，检测架通过活动锁紧结构安装于升降座上，在检测架与升降座之间设置有活动锁紧结构，活动锁紧结构包括滑动孔槽、锁紧构件，检测架可相对于升降座沿滑动孔槽在水平面上活动，并且检测架可通过锁紧构件锁紧固定于升降座上。本实施例可使得两个电极探针的相对位置与所检测的电元件的两极位置匹配、以及两个电极探针与电路板上的电元件的位置匹配，实现对不同型号的电元件以及不同电路板进行检测。

技术领域

本实用新型涉及电路板检测设备的领域，特别涉及一种电路板检测机构。

背景技术

在电路板上一般插接或者焊接有各种电元件，例如：电容、双极管、单极管等。在电路板的生产过程中，需要对安装在电路板上的电元件的性能进行检测，目前只是通过人工目测的方式进行检测。虽然在市场上出现一些辅助的检测装置，但现有的检测装置具有以下缺点：由于不同型号的电元件两极的距离也会不同，现有的检测装置只能对单个型号的电元件进行检测，适用范围小；当检测到异常的电元件时，需要人工进行标记，这样会造成检测效率低下、容易漏检、误检。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种电路板检测机构，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。

为解决上述技术问题所采用的技术方案：

一种电路板检测机构，包括：固定座、升降座、升降驱动组件和检测组件，升降驱动组件安装于固定座上，所述升降驱动组件包括与所述升降座传动连接、并带动所述升降座相对于固定座升降的升降驱动端；检测组件包括检测架、电极探针，所述检测架和电极探针均设置有两个，两个电极探针一一对应安装于两个检测架上，在所述检测架与升降座之间设置有活动锁紧结构，活动锁紧结构包括滑动孔槽、锁紧构件，所述滑动孔槽在水平面内延伸，所述检测架可相对于升降座沿所述滑动孔槽在水平面上活动，并且所述检测架可通过锁紧构件锁紧固定于所述升降座上。

本实用新型的有益效果是：在使用时，两个电极探针与外设的电元件检测器电性连接，使得检测架沿所述滑动孔槽在水平面上活动，调节好每一个检测架上的电极探针在水平面上的位置，并通过锁紧构件进行固定，使得两个电极探针的相对位置与所检测的电元件的两极位置匹配、以及两个电极探针与电路板上的电元件的位置匹配，从而可对不同型号的电元件以及不同电路板进行检测；在对电路板上的电元件进行检测时，通过升降驱动组件驱动升降座在上下方向上移动，从而带动两个电极探针同步上下移动，令两个电极探针与电路板上的电元件的两极接触，进而外设的电元件检测器可检测电元件的性能。

作为上述技术方案的进一步改进，所述滑动孔槽呈条形状，所述滑动孔槽设置于检测架上，所述锁紧构件连接于滑动孔槽与所述升降座之间，所述锁紧构件具有呈上下延伸的转动轴线；所述检测架可相对于升降座沿所述滑动孔槽移动，以及可相对于所述升降座绕所述转动轴线转动。

在调节电极探针的位置时，检测架可绕锁紧构件的转动轴线转动，又或者沿滑动孔槽移动，使得检测架上的电极探针可在水平面上任意方向调节，再通过锁紧构件锁紧固定检测架与升降座之间的相对位置。

具体地，所述锁紧构件包括锁紧螺杆、锁紧螺母，所述锁紧螺杆的轴线呈上下延伸设置，所述锁紧螺杆的一端与升降座或检测架固定连接，所述锁紧螺杆的另一端穿过所述滑动孔槽后与锁紧螺母螺纹连接。

通过拧动锁紧螺母来调节锁紧构件的松紧，而锁紧螺杆起到固定连接的作用，同时也可起到导向的作用，在锁紧螺杆与滑动孔槽的配合下，使得检测架可绕锁紧螺杆转动以及沿滑动孔槽延伸的方向移动。

作为上述技术方案的进一步改进，所述电极探针的轴线呈上下延伸设置，所述电极探针的上端为连接端，所述电极探针的下端为探测端。