[实用新型]一种用于光学晶体的角度检验装置

说明书

本实用新型公开了一种用于光学晶体的角度检验装置，其中包括定位工装，所述定位工装用于固定待测光学晶体；靶盘，所述靶盘与所述定位工装间隔设置，所述靶盘朝向待测光学晶体反射面的表面上设置有多个标记圈，多个所述标记圈同心设置；光源，所述光源设置在所述定位工装及靶盘之间并用于朝向待测光学晶体反射面发射光线。从而直接读取该待测光学晶体的端面倾斜角度的范围，是否在满足合格标准，本方案设备的结构简单，测量的角度值不需要通过计算而直接读取，提高检测效率，适用于批量化检测。

技术领域

本实用新型涉及光学设备领域，尤其涉及的是一种用于光学晶体的角度检验装置。

背景技术

光纤通信中需要运用到大量的光学晶体，例如：光纤适配器插芯、准直器玻璃毛细管、FA产品、光隔离器等。光学晶体在运用时会与光线呈一定角度设置，以光隔离器为例：在半导体激光器及光放大器等对来自连接器、熔接点、滤波器等的反射光非常敏感，并导致性能恶化；因此需要用光隔离器阻止反射光。光隔离器是一种只允许光沿一个方向通过而在相反方向阻挡光通过的光无源器件。通过光纤回波反射的光能够被光隔离器很好的隔离。光隔离器通常被使用在光路中用来避免光路中的回波对光源，泵浦源以及其他发光器件造成的干扰和损害。

在自由空间型光隔离器中，光隔离器一般由隔离器，在隔离器上套设的磁环组成，装配时隔离器朝向发射光的端面与磁环倾斜一定角度，即射入的光线并不是垂直射到隔离器的端面，而是与之间形成一定的锐角角度，当角度低于使用下限时，反射光增多，对信号造成干扰；超出使用上限时，加剧横向错位而造成的信号损耗，因此需要保证光隔离器中的隔离器的端面的倾斜角度在规定范围内。为方便描述，本方案中隔离器的端面的倾斜角度也作为光隔离器的倾斜角度。

为检测该角度，目前采用的方案一般为测量角度面多点的高低XYZ坐标轴位置，通过软件自带的三角函数公式计算出角度，如尼康的影像测量仪，该方案设备价格较高，测量耗时较长(约30s/pcs)，不适用批量化生产方案。

因而现有技术还有待改进和提高。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种用于光学晶体的角度检验装置，通过把射到待测光学晶体端面的光线反射到靶盘面上，通过反射点所在位置位于靶盘上不同标记圈所形成的区域，通过反射点位于靶盘上不同标记圈之间的区域，不同标记圈之间所形成的区域代表的不同角度范围，从而直接读取该待测光学晶体的端面倾斜角度，本方案设备的结构简单，测量的角度值不需要通过计算而直接读取，测量精度可达到0.1°，测量耗时约7s/pcs，从而提高检测效率，适用于批量化检测。

本实用新型的技术方案如下：

一种用于光学晶体的角度检验装置，包括：定位工装，所述定位工装用于固定待测光学晶体；

靶盘，所述靶盘与所述定位工装间隔设置，所述靶盘朝向待测光学晶体反射面的表面上设置有多个标记圈，多个所述标记圈同心设置；

光源，所述光源设置在所述定位工装及靶盘之间并用于朝向待测光学晶体反射面发射光线。

上述方案中，通过光源产生光线，光线射到待测光学晶体的倾斜端面，光隔离器的端面把射过来的光线反射到靶盘面上，由于待测光学晶体的端面倾斜，反射光线与入射光线呈一定角度反射出去，反射光线射到靶盘上，从而在靶盘上能看到反射点，同时在靶盘上设置有不同的标记圈，根据靶盘距离定位工装的位置从而预设计算出各标记圈所代表的倾斜端面的角度，通过反射点位于靶盘上不同标记圈之间的区域，不同标记圈之间所形成的区域代表的不同角度范围，从而直接读取该待测光学晶体的端面倾斜角度的范围，是否在满足合格标准，本方案设备的结构简单，测量的角度值不需要通过计算而直接读取，测量精度可达到0.1°，测量耗时约 7s/pcs，从而提高检测效率，适用于批量化检测。

可选地，所述角度检验装置还包括有三轴调节滑台，所述三轴调节滑台固定连接所述定位工装。