[实用新型]一种光学器件的表平面的角度测量装置有效

专利信息
申请号: 202021543969.0 申请日: 2020-07-30
公开(公告)号: CN212931346U 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 张芬;叶文辉;陈建林 申请(专利权)人: 福建华科光电有限公司
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 范小清
地址: 350000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 器件 平面 角度 测量 装置
【说明书】:

一种光学器件的表平面的角度测量装置,依次排列有:反射光接收屏、准直器装置、旋转测试夹具;所述准直器装置,包括:准直器固定台、固定在所述准直器上方的准直器主体;所述旋转测试夹具,包括:T型固定底座、中心定位固定夹具、球头柱塞;所述中心定位固定夹具通过所述所述球头柱塞固定在所述T型固定底座上;所述中心定位固定夹具用于固定被测元件。本实用新型通过旋转装置将被测元件旋转180°,测量出两次反射光在光屏的距离,就能准确测量计算出待测元件的表平面与垂直线之间的角度。测试时使用方便,测试工时少,可以快速准确的测量出待测元件的角度。

【技术领域】

本实用新型属于光学器件技术领域,具体是指一种光学器件的表平面的角度测量装置。

【背景技术】

角度测量是计量科学的重要组成部分,特别是微小角度的测量在精密加工、航天航空、军事、通讯等许多领域都有极其重要的意义和作用。一般机械式量具和仪器已经不能满足许多角度的测量。

光学测角方法具有非接触、高准确度和高灵敏度的特点。被测试的元件包括C-LENSG-LENS光纤头的平面的角度(如图1所示),带轴对称的晶体的通光面的角度如YVO4晶体(如图2所示),以及其他的带轴对称可通光的元件。

目前市面上常见的光学检测角度的仪器有测角仪,测角仪大多采用平行光管自准直反射式测量角度。平行光管自准直反射式测角仪的装置在测量角度时需要将平行光入射到待测的元件表面,记录入射光的位置,以及反射光在光屏的位置。一旦测量过程中入射光的位置发生改变,就会对测量结果造成影响,带来测量的误差。并且,如果入射光没有垂直入射到待测元件的表面时,而在计算角度时通常用光屏到待测元件的距离进行计算,就会造成一定的测量误差,而如果每次调整入射光垂直入射待测元件,则会带来更长的测试工时,使得测试效率低下。

【实用新型内容】

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种简易、快速、准确的角度测量装置。

本实用新型是这样实现的:

一种光学器件的表平面的角度测量装置,依次排列有:反射光接收屏、准直器装置、旋转测试夹具;

所述准直器装置,包括:准直器固定台、固定在所述准直器上方的准直器主体;

所述旋转测试夹具,包括:T型固定底座、中心定位固定夹具、球头柱塞;所述中心定位固定夹具通过所述所述球头柱塞固定在所述T型固定底座上;所述中心定位固定夹具用于固定被测元件。

进一步地,所述准直器主体,是可见光准直器。

进一步地,所述中心定位固定夹具朝向所述准直器装置的一侧开设有一孔,该孔用于夹持被测元件。

本实用新型的优点在于:本实用新型提供一种简易快速的角度测量装置,不依赖入射光的位置和入射光的入射方向,通过旋转装置将被测元件旋转180°,测量出两次反射光在光屏的距离,就能准确测量计算出待测元件的表平面与垂直线之间的角度。测试时使用方便,测试工时少,可以快速准确的测量出待测元件的角度,由于采用光学反射法,本实用新型的角度测试装置不仅可以测量大角度的元件,还可以测量小角度的元件。并且中心定位固定夹具可以针对不同的产品做不同固定设计,使得本实用新型的角度测试装置可应用的产品范围广泛。

【附图说明】

下面参照附图结合实施例对本实用新型作进一步的描述。

图1是被测元件C-LENSG-LENS光纤头的结构示意图。

图2是被测元件YVO4晶体的结构示意图。

图3是本实用新型的角度测量装置结构示意图。

图4是本实用新型的角度测量装置中的旋转测试夹具的分解结构示意图。

图5是本实用新型中的旋转测试夹具的中心定位固定夹具的结构示意图。

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