[实用新型]一种衔铁组件检测夹具装置有效

专利信息
申请号: 202021520741.X 申请日: 2020-07-28
公开(公告)号: CN212963188U 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 王永亮;张云奎;王飚;姜国明;马兰 申请(专利权)人: 北京实验工厂有限责任公司
主分类号: G01B9/04 分类号: G01B9/04;G01B11/26;G01B11/27
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 张欢
地址: 100038 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 衔铁 组件 检测 夹具 装置
【说明书】:

实用新型涉及一种衔铁组件检测夹具装置,包括第一检测装置和第二检测装置;第一检测装置和第二检测装置均为面对称的块状结构,第二检测装置的第一固定长键(8)、第二固定长键(9)分别与第一检测装置的第一固定长槽(3)、第二固定长槽(4)配合安装,使得第一压紧固定键(10)、第二压紧固定键(11)压紧衔铁组件。本实用新型满足在装配使用状态下来快速检测,用来检测装配线上组装好的衔铁组件中的部分形位公差,保证测量基准与设计基准一致,缩短装夹找正时间,使用简便,测量结果准确可靠,显著提高检测效率。

技术领域

本实用新型涉及一种检测夹具装置。

背景技术

衔铁组件是伺服机构中的组成部分,由衔铁、弹簧管、挡板和反馈杆四种零件装配后组合而成,在伺服机构中起到重要的作用。其中衔铁、挡板和弹簧管之间的平行度、垂直度等要求比较严,要求精确测量。

目前衔铁组件检测时,主要采用组合量块以及V型铁定位,使用万能工具显微镜进行检测。这种检测方法存在的主要问题在于:

1)组合量块法

衔铁组件的被测元素(平行度、角度、垂直度)都不在一个平面位置,通过组合量块来检测,而且需要多次组合量块,每次测量时需要在万能工具显微镜上找正测量基准,准备工作时间长,而量块支撑衔铁组件的位置并不是装配基准,从而使测量精度下降。

2)使用V型铁定位检测

首先需要把衔铁组件粘附在V型铁上,再放置于万能工具显微镜的平台上。由于V型铁会挡住万能工具显微镜的底来光源,使衔铁组件的影像不清晰,增加了万能工具显微镜目镜中米字线压线的难度,测量准确度降低。

以上两种检测方法存在找正定位时间长,检测效率低、测量基准与设计基准不一致等问题。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提出一种检测夹具装置用来检测衔铁组件,满足在装配使用状态下来快速检测,用来检测装配线上组装好的衔铁组件中的部分形位公差,保证测量基准与设计基准一致,缩短装夹找正时间,使用简便,测量结果准确可靠,显著提高检测效率。

本实用新型所采用的技术方案是:一种衔铁组件检测夹具装置,包括第一检测装置和第二检测装置;

第一检测装置为面对称的块状结构,第一检测装置一端设置第一镂空透光槽,形成两个关于对称面对称的支耳a,两个支耳a上分别设置第一固定长槽和第二固定长槽,第一固定长槽和第二固定长槽关于对称面对称;第一镂空透光槽一侧设置长方形缺口,形成第一基准定位面和第二基准定位面,第一基准定位面与第一镂空透光槽底面平行,第二基准定位面分别与对称面、第一基准定位面垂直,第二基准定位面沿对称面方向的长度大于第一镂空透光槽的深度;第一检测装置另一端设置第二镂空透光槽,形成两个关于对称面对称的支耳b,支耳b与支耳a平行;第一基准定位面中心开有一个方形的过渡槽;

第二检测装置为面对称的块状结构,方块结构两侧侧面上对称设置第一固定长键和第二固定长键;方块结构第三个侧面上对称设置两条平行的第一压紧固定键、第二压紧固定键;第一压紧固定键、第二压紧固定键的长度大于方块结构的厚度,形成钩状;第一压紧固定键、第二压紧固定键之间的平面处向下开有第三镂空透光槽;

第一固定长键、第二固定长键分别与第一固定长槽、第二固定长槽配合安装,使得第一压紧固定键、第二压紧固定键压紧衔铁组件。

第一基准定位面与第二基准定位面之间的垂直度不大于0.005mm。

第一固定长槽、第二固定长槽分别与第一固定长键、第二固定长键间隙配合,间隙量不大于0.005mm。

第一镂空透光槽靠近第一固定长槽的位置与第二检测装置间隙配合,间隙量不大于0.005mm。

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