[实用新型]一种具有芯片保护功能且便于取放的料盘

说明书

本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种具有芯片保护功能且便于取放的料盘，包括基板，所述基板具有用以承载料盒的承载面，所述承载面上设置有限位槽，用以将所述料盒的至少部分容置限位于所述限位槽内。本实用新型实施例提供的具有芯片保护功能且便于取放的料盘的基板上设置有限位槽，在将料盒放置于限位槽时，料盒的至少部分会被容置限位于限位槽内，这样料盒在具有芯片保护功能且便于取放的料盘上不易出现晃动的情况。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种具有芯片保护功能且便于取放的料盘。

背景技术

芯片广泛应用于移动终端、计算机设备、人脸识别、智能家居、航空航天等各个领域当中。在芯片的研发和使用过程中，一般需要对芯片的多项参数(如光束发散角、光功率、电流、电压等)进行测试，以确定芯片的性能和工作状态是否满足要求。但是，现有的芯片测试装置的自动化程度较低，大部分测试操作过程需要人工操作来完成。

鉴于此，本申请的发明人设计了一种芯片自动测试台，该芯片自动测试台为全自动操作的专业测试平台，可实现对单颗芯片的光束发散角、光功率、电流、电压等参数的自动测试。芯片自动测试台设置有料盘，料盘上的料盒内放置有芯片，在芯片的自动测试的过程中，芯片自动测试台会通过取料机构自料盒处取放芯片。在芯片自动测试台的设计过程中，发明人发现若料盒在料盘上出现晃动的情况，不但会造成料盒内的芯片的磕碰，还会影响到取料机构自料盒取放芯片的精确性，造成芯片或表面串联金丝的损坏。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种具有芯片保护功能且便于取放的料盘，用于解决或部分解决料盒在料盘上出现晃动的问题。

本实用新型实施例提供一种具有芯片保护功能且便于取放的料盘，包括基板，所述基板具有用以承载料盒的承载面，所述承载面上设置有限位槽，用以将所述料盒的至少部分容置限位于所述限位槽内。

其中，所述基板内部设置有用以与外部真空吸附装置连通的气道，所述限位槽的底壁开设有气孔，所述气孔与所述气道连通，用以吸附位于所述限位槽处的料盒。

其中，所述限位槽的底壁凸设有凸台，所述气孔设置于所述凸台上。

其中，所述承载面包括第一功能区和第二功能区，所述限位槽包括设置于所述第一功能区内的第一限位槽以及设置于所述第二功能区内的第二限位槽，所述第一限位槽用以放置第一料盒，所述第二限位槽用以放置第二料盒且设置有多个。

其中，所述具有芯片保护功能且便于取放的料盘还包括第一料盒和多个第二料盒，所述第一料盒用以放置待测芯片，多个所述第二料盒分别用以放置多个不同等级的已测芯片，所述第一料盒设置于所述第一限位槽处，多个所述第二料盒分别设置于多个所述第二限位槽处。

其中，所述承载面还包括擦水区，所述擦水区内设置有吸水件，用以在已测芯片移动至所述擦水区时，擦除所述已测芯片底部的水渍。

其中，所述吸水件为无尘纸。

其中，所述擦水区内设置有安装槽，所述吸水件设置于所述安装槽处。

其中，所述擦水区位于所述第一功能区和所述第二功能区之间。

其中，所述承载面包括依次相连的两个第一边界和两个第二边界，所述第一功能区和所述第二功能区分别靠近两个所述第一边界，所述第一功能区内沿所述第一边界的延伸方向间隔设置有多个所述第一限位槽，多个所述第二限位槽沿所述第一边界的延伸方向和所述第二边界的延伸方向呈阵列布置。

本实用新型实施例提供的具有芯片保护功能且便于取放的料盘的基板上设置有限位槽，在将料盒放置于限位槽时，料盒的至少部分会被容置限位于限位槽内，这样料盒在具有芯片保护功能且便于取放的料盘上不易出现晃动的情况。

附图说明