[实用新型]一种三维测量装置

说明书

本实用新型公开了一种三维测量装置，涉及三维测量技术领域。本实用新型包括激光发射器、镜头、图像处理设备和反射镜，所述镜头设置在所述激光发射器的旁侧，所述镜头与所述图像处理设备通信连接；所述反射镜为介质膜反射镜，所述反射镜设置在所述镜头的下方，且倾斜于所述镜头的朝向设置，所述反射镜的镜面朝向所述镜头和所述激光发射器。本实用新型解决了直装镜头产生的强反光问题，抗杂光干扰能力强，成像清晰，测量准确，所需安装空间小，结构紧凑。

技术领域

本实用新型涉及三维测量技术领域，具体涉及一种三维测量装置。

背景技术

三维测量主要采用两个镜头或一个镜头与光学折反射系统构成的双目立体视觉传感器，从不同位置或者角度拍摄得到同一空间物体的多幅图像，基于视差原理即可获得物体的三维几何信息，重建周围场景的三维形状与位置。

基于一个镜头和光学折反射系统所构成的三维测量装置，主要由单个镜头、图像处理设备和激光发射器组成，在使用时通常将激光发射器和镜头并排设置在被测物体的上方，激光发射器的出射激光经过被测物体反射后进入镜头内，镜头获取被测物体的图像并输入到图像处理设备中成像，获得检测图像和检测参数。

在上述三维测量装置的使用过程中，如果将镜头正对着被测物体拍摄，被测物体表面的反射光、工作时产生的弧光等，都可能造成强反光问题，反光会与反射的激光混杂，影响检测图像成像及测量结果。因而实际应用中，一般需要将镜头斜向布置，即将镜头的朝向倾斜于被测物体表面，这种方式可以有效缓解强反光问题，但却会带来另一问题，就是斜向布置镜头的方式，受倾斜角度和工作距离的限制，镜头位置的整体尺寸偏大，所占用的安装空间增大，这样一方面不利于三维测量装置的安装使用，另一方面，当三维测量装置配合其他设备，如机械臂等使用时，会出现难以避障的问题，给三维测量装置的实际应用带来了一定的困难。

综上所述，现有技术中的三维测量装置，为了缓解镜头强反光的问题，镜头多采用斜向布置的方式，而斜向布置的方式会导致镜头位置所需安装空间大、难以避障的问题。

实用新型内容

为了解决上述现有技术存在的问题，本实用新型目的在于提供一种三维测量装置。本实用新型解决了直装镜头产生的强反光问题，抗杂光干扰能力强，成像清晰，测量准确，所需安装空间小，结构紧凑。

本实用新型所述的一种三维测量装置，包括激光发射器、镜头、图像处理设备和反射镜，所述镜头设置在所述激光发射器的旁侧，所述镜头与所述图像处理设备通信连接；所述反射镜为介质膜反射镜，所述反射镜设置在所述镜头的下方，且倾斜于所述镜头的朝向设置，所述反射镜的镜面朝向所述镜头和所述激光发射器。

优选地，所述镜头的朝向与所述激光发射器的激光出射方向平行，所述反射镜与所述镜头的朝向所成角度为30°。

优选地，所述反射镜为15°介质膜反射镜。

优选地，所述镜头的下方设有滤光片。

优选地，所述滤光片为带通型滤光片，其中心波长为405nm。

本实用新型所述的一种三维测量装置，其优点在于：

1、本实用新型通过在镜头的下方设置介质膜反射镜，利用介质膜反射镜反射特定入射角度光线的特性，能有效降低测量过程中，被测物体表面反射光、弧光等杂光干扰，解决了直装镜头时，强反光影响成像和测量的问题，使得所述三维测量装置在镜头直装时，也能保持成像清晰和测量准确的特性，增强了装置的抗干扰能力。同时，由于采用镜头直装的方式，镜头所需的安装空间大大减小，更有利于三维测量装置的安装使用，降低了复杂工作环境下的操作使用难度，更有利于三维测量装置的实际应用和推广。

2、本实用新型在镜头的下方增设有滤光片，通过滤光片能有效滤除特定波长以外的其他干扰光，增强装置抗干扰能力的同时，也提高了成像质量，降低了后续的图像处理难度。

附图说明