[实用新型]用于老化测试板的接电导向座有效

专利信息
申请号: 202021366637.X 申请日: 2020-07-13
公开(公告)号: CN212905277U 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 丁鹏 申请(专利权)人: 无锡挈领科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 代理人: 赵红霞
地址: 214000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 用于 老化 测试 导向
【说明书】:

实用新型揭示了用于老化测试板的接电导向座,包括装配板,装配板上设有若干凸起横筋、及至少两个半圆形导销,老化测试设备的测试槽底部设有用于与凸起横筋一一对位配合支承凸起横筋的支撑筋、及用于与半圆形导销一一对应配合的导向桩,导向桩内设有配合槽位。本实用新型能实现老化测试板与老化测试设备测试槽之间的对位导向,确保接电端与测试槽之间的对位精确无偏差,有效防止对接端子损伤,起到较优地对位导向保护作用。通过对凸起横筋的抬高整平及对半圆形导销的精确导向,从而满足对位精度需求,导向对位可靠,延长了设备及老化测试板的使用寿命。接电导向座结构巧妙,易于搭载及制造,与老化测试板之间固接稳定可靠。

技术领域

本实用新型涉及用于老化测试板的接电导向座,属于接电导向结构的技术领域。

背景技术

随着半导体技术的快速发展和芯片复杂度的逐年提高,芯片测试已贯穿于整个设计研发与生产过程,并越来越具有挑战性。老化测试是芯片在交付客户使用之前用以剔除早期失效产品的一项重要测试。为了避免反复焊接,不同封装类型的芯片在老化测试中由特制的老化测试座固定在老化板上。

老化测试板在作业时需由设备拉取装载入测试槽中,由于老化测试板装载框架长期使用会存在一定形变,容易导致老化测试板的接电端与老化测试设备的测试槽之间出现对位偏差,造成接电端与测试槽之间的碰撞及硬性摩擦从而损伤。

实用新型内容

本实用新型的目的是解决上述现有技术的不足,针对传统老化测试板的接电端与老化测试设备的测试槽之间容易出现对位偏差的问题,提出用于老化测试板的接电导向座。

为了达到上述目的,本实用新型所采用的技术方案为:

用于老化测试板的接电导向座,老化测试设备具备与老化测试板的接电端相配合的测试槽,所述接电导向座设置于老化测试板朝向所述测试槽一侧并位于接电端的底部,

所述接电导向座包括装配板,所述装配板上设有若干凸起横筋、及至少两个半圆形导销,老化测试设备的测试槽底部设有用于与所述凸起横筋一一对位配合支承所述凸起横筋的支撑筋、及用于与所述半圆形导销一一对应配合的导向桩,所述导向桩内设有与所述半圆形导销相仿形的配合槽位。

优选地,所述装配板上设有分设在所述装配板两侧的两个边侧凸起横筋、及设置在两个所述边侧凸起横筋之间的对位凸起横筋,

所述对位凸起横筋上设有间隔部,所述间隔部内设有所述半圆形导销,并且所述半圆型导销的顶面壁为平面。

优选地,任意所述凸起横筋的自由端设有弧形导向壁。

优选地,所述装配板朝向所述老化测试板的侧壁上设有配接滑槽。

优选地,所述装配板上设有若干垂直向销孔。

本实用新型的有益效果主要体现在:

1.能实现老化测试板与老化测试设备测试槽之间的对位导向,确保接电端与测试槽之间的对位精确无偏差,有效防止对接端子损伤,起到较优地对位导向保护作用。

2.通过对凸起横筋的抬高整平及对半圆形导销的精确导向,从而满足对位精度需求,导向对位可靠,延长了设备及老化测试板的使用寿命。

3.接电导向座结构巧妙,易于搭载及制造,与老化测试板之间固接稳定可靠。

附图说明

图1是本实用新型用于老化测试板的接电导向座的结构示意图。

图2是本实用新型用于老化测试板的接电导向座的侧视结构示意图。

图3是本实用新型用于老化测试板的接电导向座的仰视结构示意图。

具体实施方式

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