[实用新型]壁厚测量仪有效

专利信息
申请号: 202021349644.9 申请日: 2020-07-10
公开(公告)号: CN212228000U 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 丁菊;刘书宏;袁奕雯 申请(专利权)人: 上海市特种设备监督检验技术研究院
主分类号: G01B15/02 分类号: G01B15/02
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 曹廷廷
地址: 200062 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 测量仪
【说明书】:

本实用新型提供了一种壁厚测量仪,包括支撑杆及设置于支撑杆的发射单元和探测单元。支撑杆设置于一基台,包括自基台向上的第一部分、第二部分及第三部分,第一部分的一端固定在基台上,另一端通过一倾斜轴连接第二部分的一端,第二部分的另一端通过一旋转轴连接第三部分,且第三部分设置有滑轨槽。发射单元包括第一滑块、第一连杆及射线机,第一滑块设置于滑轨槽,第一连杆贯穿第一滑块且射线机设置在第一连杆的一端。探测单元包括第二滑块、第二连杆及射线探测器,第二滑块设置于滑轨槽,第二连杆贯穿第二滑块且射线探测器设置在第二连杆的一端。其中发射单元和探测单元设置在旋转轴的两侧,射线机和射线探测器设置在支撑杆的同侧。

技术领域

本实用新型涉及壁厚测量技术领域,尤其涉及一种壁厚测量仪。

背景技术

壁厚测量仪是进行厚度测量的主要仪器,广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等领域。现有技术中通常利用超声波脉冲反射原理来测量待测工件的厚度,当壁厚测量仪的探头发射的超声波脉冲到达所述待测工件的材料分界面时,超声波脉冲被反射回探头,所述壁厚测量仪通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定所述待测工件的厚度。

然而,由于现有的壁厚测量仪通常采用超声波脉冲反射原理来实现厚度测量,要求所述待测工件的制作材料必须为超声波的良导体,例如金属、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维等,因此无法对其他材料制成的工件的厚度进行精确测量。此外,现有技术还存在测量区域小、无法适应极限工况(例如高温、低温)等缺陷。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种壁厚测量仪,在不接触待测工件的情况下精确测量所述待测工件的厚度,以实现在极限工况(例如高温、低温)或不停工状态下的壁厚测量。

为了达到上述目的,本实用新型提供了一种壁厚测量仪,包括:

支撑杆,设置在一基台上,包括自所述基台向上的第一部分、第二部分以及第三部分,所述第一部分的一端固定在所述基台上,另一端通过一倾斜轴与所述第二部分的一端连接,所述第二部分的另一端通过一旋转轴连接所述第三部分且所述第三部分设置有滑轨槽;

发射单元,包括第一滑块、第一连杆以及射线机,所述第一滑块设置于所述滑轨槽,所述第一连杆贯穿所述第一滑块,且所述射线机设置在所述第一连杆的一端;

探测单元,包括第二滑块、第二连杆以及射线探测器,所述第二滑块设置于所述滑轨槽,所述第二连杆贯穿所述第二滑块且所述射线探测器设置在所述第二连杆的一端;

其中,所述发射单元和所述探测单元分别设置在所述旋转轴的两侧,所述射线机和所述射线探测器设置在所述支撑杆的同一侧。

可选的,所述第一连杆的一端设置有夹具,通过所述夹具夹持所述射线机。

可选的,所述第二连杆的一端设置有探测器平台,通过所述探测器平台固定所述探测器。

可选的,所述壁厚测量仪还包括与所述射线探测器连接的控制器。

可选的,所述第二连杆的内部中空,所述射线探测器的连接线穿过所述第二连杆的内部与所述控制器连接。

可选的,所述控制器利用边缘法对所述射线探测器传输的图像结果进行处理。

可选的,所述支撑杆与所述旋转轴、所述倾斜轴的连接处均设置有螺纹或齿纹,所述旋转轴和所述倾斜轴均为双头螺栓,且均通过螺母和垫片固定在所述支撑杆上。

可选的,所述第一滑块和所述第二滑块上均设置有螺纹孔,且均通过螺栓固定在所述滑轨槽上。

可选的,所述第一滑块和所述第二滑块上均设置有螺纹通孔,所述第一连杆和第二连杆上均设置有与所述螺纹通孔配合的螺纹。

可选的,所述支撑杆、所述第一滑块和所述第二滑块的制作材料均包括铝合金。

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