[实用新型]一种粗糙度量测仪的保护外壳有效

专利信息
申请号: 202021249420.0 申请日: 2020-06-30
公开(公告)号: CN212658237U 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 刘得志 申请(专利权)人: 东莞市世平光电科技有限公司
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30
代理公司: 东莞市明诺知识产权代理事务所(普通合伙) 44596 代理人: 陈思远
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 粗糙 度量 保护 外壳
【说明书】:

实用新型涉及粗糙度量测仪技术领域,具体为一种粗糙度量测仪的保护外壳,包括粗糙度量测仪本体,粗糙度量测仪本体顶部设有检测杆,检测杆末端设有检测头,粗糙度量测仪本体顶部位于检测杆前侧滑动连接有前隔板,前隔板两侧设有侧板,两个侧板顶部间连接有顶板,两个侧板间位于顶板后侧滑动连接有后隔板。该粗糙度量测仪的保护外壳,在粗糙度量测仪使用时,将前隔板、侧板和后隔板滑出检测杆和检测头的范围,将检测杆和检测头露出使用,不需要使用时,将前隔板、侧板和后隔板滑回原处,通过前隔板、侧板和后隔板对检测杆和检测头进行密封保护,防止意外碰到检测杆和检测头,造成变形损坏,影响其检测的精度。

技术领域

本实用新型涉及粗糙度量测仪技术领域,具体为一种粗糙度量测仪的保护外壳。

背景技术

在半导体制程中,必须定期或不定期地对半导体制程设备的零件进行清洗及再生,以维持半导体制程设备的效能,并可延长设备的使用寿命。此种遮覆板在清洗后,还需要在表面使用喷砂等工艺增加表面的粗糙度,以便于后续生产,而在表面处理后,还需要使用粗糙度量测仪进行测量以确认是否及格,现有的一般是通过检测头在产品表面滑行,检测其粗糙度,对检测头精度要求较高,现有的多数粗糙度量测仪的检测头处于裸露状态,在拿取存放时容易被碰到,存在变形损坏的风险,影响其测量精度和使用寿命,鉴于此,我们提出一种粗糙度量测仪的保护外壳。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种粗糙度量测仪的保护外壳,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:

一种粗糙度量测仪的保护外壳,包括粗糙度量测仪本体,所述粗糙度量测仪本体顶部靠近其后侧边缘处设有检测杆,所述检测杆末端的后侧设有检测头,所述粗糙度量测仪本体顶部位于检测杆前侧设有与其滑动连接的前隔板,所述前隔板两侧设有向后延伸的侧板,两个所述侧板顶部之间连接有顶板,两个所述侧板之间位于顶板后侧设有与其滑动连接的后隔板,所述后隔板前侧紧密粘接有防护垫,所述防护垫的前侧与顶板的后侧相贴合。

优选的,所述前隔板的顶部高度高于所述检测杆的顶部高度。

优选的,所述粗糙度量测仪本体顶部开设有两个相互平行且与其前侧相贯穿的第一滑槽,所述第一滑槽呈倒“T”字型结构,所述前隔板底部设有两个对称且与其呈一体成型结构的第一滑块,所述第一滑块的尺寸结构与第一滑槽的尺寸结构相适配,且所述第一滑块与第一滑槽一一对应并与其滑动连接。

优选的,所述第一滑槽的前侧边缘处安装有第一挡块,且所述第一滑槽的内壁上镶设有橡胶垫。

优选的,所述侧板内侧靠近其后侧边缘处开设有贯穿的第二滑槽,所述后隔板两侧设有两个对称且与其呈一体成型结构的第二滑块,所述第二滑块的尺寸结构与第二滑槽的尺寸结构相适配,且所述第二滑块与第二滑槽一一对应并与其滑动连接。

优选的,所述第二滑槽的底部边缘处安装有第二挡块,且所述第二滑槽的内壁上镶设有橡胶垫。

优选的,所述前隔板前侧安装有呈“U”字型结构的把手。

优选的,所述后隔板后侧设有若干呈等间距线性分布的凸边,且所述凸边与后隔板呈一体成型结构。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

该粗糙度量测仪的保护外壳,在粗糙度量测仪的检测杆和检测头四周设有滑动连接的前隔板、侧板和后隔板,在粗糙度量测仪使用时,将前隔板、侧板和后隔板滑出检测杆和检测头的范围,将检测杆和检测头露出使用,在不需要使用时,将前隔板、侧板和后隔板滑回原处,通过前隔板、侧板和后隔板对检测杆和检测头进行密封保护,防止意外碰到检测杆和检测头,造成变形损坏,影响其检测的精度。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构第一形态示意图;

图2为本实用新型的整体结构第二形态示意图;

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