[实用新型]一种TFT屏老化测试装置

说明书

本实用新型公开了一种TFT屏老化测试装置，包括：控制器；显示屏，连接至所述控制器；声光报警电路，连接至所述控制器；TFT屏驱动电路，其输入端与所述控制器连接，其RGB信号输出端分别连接至RGB转LVDS转接电路的输入端、RGB接口的TFT屏的输入端和RGB转MIPI转接电路的输入端；所述RGB转LVDS转接电路的输出端连接至LVDS接口的TFT屏；所述RGB转MIPI转接电路的输出端连接至MIPI接口的TFT屏。本老化测试装置成本低廉，可以针对不同接口的TFT显示屏进行测试，应用灵活，可以大幅提高测试效率。

技术领域

本实用新型涉及TFT屏老化测试领域，尤其涉及一种TFT屏老化测试装置。

背景技术

目前，TFT中小尺寸液晶膜组老化，很多的厂家生产好模组后，不老化，直接出货。导致客户抱怨不断。

市面上现有的老化装置，一般采用ARM+FPGA方案来搭建，这种方案最大的问题是成本高，老化范围窄，要大批量搭建老化架，代价太高。而且一般的单片工程师很难自己设计FPGA方案。

发明内容

本实用新型的目的在于，针对上述问题，提供一种TFT屏老化测试装置，成本低廉，可以针对不同接口的TFT显示屏进行测试，应用灵活，可以大幅提高测试效率。

为解决上述技术问题，本实用新型基于以下技术方案进行实施：

一种TFT屏老化测试装置，包括：

控制器；

显示屏，连接至所述控制器；

声光报警电路，连接至所述控制器；

TFT屏驱动电路，其输入端与所述控制器连接，其RGB信号输出端分别连接至RGB转LVDS转接电路的输入端、RGB接口的TFT屏的输入端和RGB转MIPI转接电路的输入端；

所述RGB转LVDS转接电路的输出端连接至LVDS接口的TFT屏；

所述RGB转MIPI转接电路的输出端连接至MIPI接口的TFT屏。

进一步的，所述TFT屏驱动电路包括LT7686图形加速显示芯片。

进一步的，所述显示屏为2.8寸的TFT_LCD显示屏。

进一步的，所述声光报警电路包括有电连接至所述控制器的LED灯和蜂鸣器。

进一步的，所述控制器为STC8芯片。

进一步的，所述RGB转MIPI转接电路包括SSD2828芯片。

进一步的，所述RGB转LVDS转接电路包括THC63LVDM83D芯片。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型公开了一种TFT屏老化测试装置，设置TFT屏驱动电路和不同接口的转接电路，其成本低廉，可以针对不同接口的TFT显示屏进行测试，应用灵活，可以大幅提高测试效率。

应理解，在本实用新型范围内中，本实用新型的上述各技术特征和在下文(如实施例)中具体描述的各技术特征之间都可以互相组合，从而构成新的或优选的技术方案。限于篇幅，在此不再一一累述。

附图说明

图1是本实用新型实施例中所述的TFT屏老化测试装置的功能模块示意图。

图2是本实用新型实施例中所述的控制器和供电电路的电路连接示意图。

图3是本实用新型实施例中所述的TFT屏驱动电路的电路连接示意图。

图4是本实用新型实施例中所述的显示屏的电路连接示意图。