[实用新型]一种热电堆芯片批量测试装置

权利要求书

1.一种热电堆芯片批量测试装置，其特征在于，包括电压信号采集模块、信号处理模块、显示模块以及供电模块，所述电压信号采集模块包括多路切换电路、ADC采样电路以及分压电路，所述多路切换电路的输入端分别与多个热电堆芯片的TP正极、TP负极、NTC正极以及接地脚电连接，所述多路切换电路的输出端分别与ADC采样电路的输入端以及分压电路的输入端电连接，所述ADC采样电路的输出端以及分压电路的输出端均与信号处理模块的输入端电连接，所述信号处理模块的输出端与显示模块的输入端电连接，所述供电模块分别与电压信号采集模块、信号处理模块以及显示模块电连接。

2.如权利要求1所述的一种热电堆芯片批量测试装置，其特征在于，所述显示模块包括LCD显示屏以及双色LED灯，所述LCD显示屏以及双色LED灯均与信号处理模块电连接。

3.如权利要求2所述的一种热电堆芯片批量测试装置，其特征在于，所述多路切换电路包括多路模拟开关U3、多路模拟开关U4以及多路模拟开关U6，所述多路模拟开关U4的Y通道以及X通道分别与多个热电堆芯片的TP正极、TP负极电连接，所述多路模拟开关U6的Y通道以及X通道分别与多个热电堆芯片的NTC正极、接地脚电连接，所述多路模拟开关U4的Y公共端以及X公共端分别与多路模拟开关U3的Y公共端以及X公共端电连接。

4.如权利要求3所述的一种热电堆芯片批量测试装置，其特征在于，所述ADC采样电路包括电容C14、电容C15、电容C16、电容C17、电容C18、电容C19、电容C20、电容C21、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R9、运算放大器U5A、运算放大器U5B以及单向晶闸管U7，所述电容C18的一端与电压源VDD电连接，另一端接地，所述电阻R13的一端与电压源VDD电连接，另一端与单向晶闸管U7的控制极电连接，所述单向晶闸管U7的阴极与控制极电连接，其阳极接地，电容C19的一端分别与单向晶闸管U7的阴极、电容C17的一端、电阻R12的一端以及电阻R14的一端电连接，另一端接地，电容C17的另一端分别与电容C15的一端以及电阻R10的一端电连接，电容C15的另一端端接地，电阻R10的另一端分别与运算放大器U5A的正向输入端以及电阻R9的一端电连接，电阻R12的另一端分别与运算放大器U5A的负向输入端、电阻R16的一端以及电容C20的一端电连接，电阻R9的另一端接地，电阻R16的另一端以及电容C20的另一端均与运算放大器U5A的输出端以及电阻R11的一端电连接，电容C14的一端分别与电源VDD以及运算放大器的正电源引脚电连接，另一端接地，电阻R11的另一端分别与电容C16的一端以及运算放大器U5B的正向输入端电连接，电容C16的另一端接地，电阻R14的另一端分别与运算放大器U5B的负向输入端、电阻R15的一端以及电容C21的一端电连接，电容C21的另一端以及电阻R15的另一端与运算放大器U5B的输出端电连接，多路模拟开关U3的Y通道以及X通道中的Y0引脚以及X0引脚分别电连接在电容的两端上，运算放大器U5B的输出端与信号处理模块的输入端电连接。

5.如权利要求4所述的一种热电堆芯片批量测试装置，其特征在于，所述热电堆芯片批量测试装置还包括蜂鸣器，所述蜂鸣器与信号处理模块的输出端电连接。