[实用新型]一种可优化重复性的双光束测光装置有效
| 申请号: | 202021030341.0 | 申请日: | 2020-06-05 |
| 公开(公告)号: | CN212133866U | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
| 发明(设计)人: | 彭磊;黄洁锋;李生佩 | 申请(专利权)人: | 深圳市威福光电科技有限公司 |
| 主分类号: | G01J3/46 | 分类号: | G01J3/46;G01J3/02 |
| 代理公司: | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人: | 彭西洋;谭雪婷 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市龙华区龙华*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 优化 重复性 光束 测光 装置 | ||
1.一种可优化重复性的双光束测光装置,其特征在于:包括积分球、电控光调制器、测试光路以及参考光路;所述测试光路包括测试耦合光路、测试传感器;所述参考光路包括参考耦合光路、参考传感器;
所述积分球包括光源、被测窗口、测试出射窗口、参考出射窗口;所述测试出射窗口与被测窗口分别位于所述积分球上下方的球面上,具体的,所述被测窗口与测试出射窗口位于积分球的同一个过球心的截面圆上;所述参考出射窗口与参考光路组成的光路的光由所述积分球内壁反射发出;
所述电控光调制器可以通过电控方式实现透明、雾化两种状态的切换。
2.根据权利要求1所述的可优化重复性的双光束测光装置,其特征在于:当所述电控光调制器在透明状态时,所述电控光调制器透过的光谱范围为400nm~700nm。
3.根据权利要求1所述的可优化重复性的双光束测光装置,其特征在于:所述积分球上还设有光吸收阱,所述测试出射窗口位于所述被测窗口法线的一侧,所述光吸收阱位于所述被测窗口法线的另一侧,所述测试出射窗口与被测窗口法线构成的光线出射角大小等于所述吸收阱与所述被测物窗口法线构成的光线入射角大小。
4.根据权利要求1所述的可优化重复性的双光束测光装置,其特征在于:所述电控光调制器在雾化状态时,所述电控光调制器出射面的散射光呈现朗伯散射或接近朗伯散射。
5.根据权利要求1所述的可优化重复性的双光束测光装置,其特征在于:所述积分球内还设有挡板,用于防止光源发射的光直接照射到被测物上。
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