[实用新型]一种芯片测试机用的探针机构有效
申请号: | 202021018959.5 | 申请日: | 2020-06-05 |
公开(公告)号: | CN212845750U | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 卞杰锋 | 申请(专利权)人: | 苏州全威电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/067 |
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地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 探针 机构 | ||
1.一种芯片测试机用的探针机构,包括第一安装底座(1),其特征在于:所述第一安装底座(1)一侧表面等间距固定连接有第二安装底座(4),所述第二安装底座(4)内部设置有内腔(5),所述内腔(5)底端固定连接有金属块(6),所述内腔(5)内部设置有探针(10),所述第二安装底座(4)上端固定连接有连接圈(7),所述连接圈(7)表面设置有螺纹(8),所述连接圈(7)上端设置有螺纹套(9),所述螺纹套(9)与连接圈(7)尺寸相适配且与连接圈(7)螺纹连接;
所述探针(10)下端两侧开设有凹槽(15),所述凹槽(15)内部两侧均开设有滑槽(20),所述滑槽(20)内部滑动连接有滑块(18),两侧所述滑块(18)之间固定连接有垫片(11),所述垫片(11)一侧固定连接有挡块(16),所述垫片(11)一侧与凹槽(15)的一侧之间固定连接有弹簧(19)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机用的探针机构,其特征在于:所述第一安装底座(1)一侧开设有安装槽(12),所述安装槽(12)内部安装有转盘(13),且所述转盘(13)外侧固定连接有摩擦块(14),所述摩擦块(14)与安装槽(12)活动连接。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试机用的探针机构,其特征在于:所述转盘(13)一侧固定连接有连接底座(2),所述连接底座(2)与安装槽(12)滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试机用的探针机构,其特征在于:所述第二安装底座(4)设置的数量为三个。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试机用的探针机构,其特征在于:所述螺纹套(9)内部上表面两侧固定连接有橡胶垫圈(17)。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试机用的探针机构,其特征在于:所述第一安装底座(1)外侧设置有绝缘橡胶圈(3)。
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