[实用新型]一种防止误操作的双浮动微针测试夹具

说明书

本实用新型属于测试治具领域，涉及一种防止误操作的双浮动微针测试夹具，包括：由第一基座及翻盖组成的翻盖模组，所述翻盖的第一端活动安装在所述第一基座上且可绕第一基座转动使得微针模组能够与待测物连接；微针模组，包括：第二基座、第一浮动针块、第二浮动针块、测试探针及探针基板，所述第二基座的第一端面通过第一弹性件与所述翻盖模组连接，所述第一浮动针块及所述第二浮动针块均通过第二弹性件安装在所述第二基座的第二端面上，所述第二浮动针块位于所述第一浮动针块内；载板，用于安装待测物，与所述翻盖模组固定。其优点在于，不仅能够对待测物进行精准定位，降低由于定位不准而造成的重测率，还能够防止误操作导致测试探针被压断。

技术领域

本实用新型属于测试治具领域，涉及一种防止误操作的双浮动微针测试夹具。

背景技术

现有治具的测试设备采用的常规的Pogo Block进行测试，将待测PCB板放置后，直接将翻盖结构进行压合在待测PCB板上，然后连接测试探针进行测试，但是这样进行测试时，在放置待测PCB板及PCB板测试完后拿取均不够方便，另外现有的治具测试设备采用单层浮动的方式进行定位，仅仅浮动针块对待测物的定位容易造成因定位不准引起测试失败，从而导致重测率很高，在测试过程中误操作时，测试探针与待测物的连接端未一一对应，现有技术中的微针模组由于未设置自我保护的措施，从而将翻盖模组压合时测试探针就容易被压断造成断针的现象。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足，提供一种防止误操作的双浮动微针测试夹具，不仅能够对待测物进行精准定位，降低由于定位不准而造成的重测率，还能够防止误操作而导致测试探针被压断。

为了实现上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：

一种防止误操作的双浮动微针测试夹具，包括：

翻盖模组，包括：第一基座及翻盖，所述翻盖的第一端活动安装在所述第一基座上且可绕第一基座转动；

安装在所述翻盖模组上的微针模组，包括：第二基座、第一浮动针块、第二浮动针块、测试探针及用于安装所述测试探针的探针基板，所述第二基座的第一端面通过第一弹性件与所述翻盖模组连接，所述第一浮动针块通过第二弹性件安装在所述第二基座的第二端面上，所述第二浮动针块均通过第三弹性件安装在所述第二基座的第二端面上，所述第二浮动针块位于所述第一浮动针块内，在自然状态下，第二浮动针块与第一浮动针块具有高度差，且第一浮动针块位于低位，所述第二基座上还形成有用于安装所述探针基板上的第一凹槽，所述第二浮动针块上还设置有通孔，且所述通孔的位置与所述测试探针的位置相对应使得所述测试探针能够穿过所述通孔与所述待测物连接，且所述第一端面与所述第二端面相对；

载板，与所述第一基座固定，且形成有第二凹槽用于安装固定所述待测物。

进一步的，所述第二基座上还安装有第一限位块，且所述第一限位块与所述第一浮动针块的边缘抵接用于限制所述第一浮动针块朝向所述载板运动；

进一步的，所述第二基座上还安装有第二限位块，且第二限位块与所述第二浮动针块的侧壁抵接用于限制所述第二浮动针块朝向所述载板运动。

进一步的，所述第二基座的第二端面上还设置有定位导销，所述载板上还相应设置有定位孔。

进一步的，所述第二浮动针块与所述待测物相接触的端面上还设置有定位凸台。

进一步的，所述第一浮动针块上与所述待测物相接触面的边缘呈光滑弧形。

进一步的，所述翻盖的第二端安装有卡勾，所述载板上还相应设置有卡板，所述卡勾与所述卡板相配合使得所述翻盖模组能够与所述载板卡紧，且所述第一端与所述第二端相对。

进一步的，所述第二凹槽边缘还设置有导向柱。