[实用新型]一种连接器微针双层浮动测试模组有效

专利信息
申请号: 202021005466.8 申请日: 2020-06-04
公开(公告)号: CN212965025U 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 黄庆云 申请(专利权)人: 深圳市振云精密测试设备有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/02
代理公司: 深圳市龙成联合专利代理有限公司 44344 代理人: 陈丽燕
地址: 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区10*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 连接器 双层 浮动 测试 模组
【说明书】:

本实用新型属于测试夹具领域,涉及一种连接器微针双层浮动测试模组,包括:下模底座,形成有第一安装槽,所述第一安装槽内安装有下模浮动板及下模针板,所述下模浮动板通过第一弹性件与所述下模针板连接;与所述下模底座活动连接的上模翻盖,所述上模翻盖上还形成有第二安装槽,所述上模翻盖上还固定安装有上模盖板,所述上模固定座通过第二弹性件与上模盖板连接;上模压头,包括:第一连接部及从所述第一连接部延伸出的压合部,所述第一连接部与所述上模固定座活动连接,所述压合部用于下压所述下模浮动板。其优点在于,能够保证上模压头垂直软下压,防止上模压头硬压导致连接器发生损坏,从而保证产品测试的良品率及测试效率能够稳定。

技术领域

本实用新型属于测试夹具领域,涉及一种连接器微针双层浮动测试模组。

背景技术

目前在测试夹具在对待测产品进行测试时,先将待测产品放入治具载盘内,然后将治具的测试模组与待测试产品上的连接器通过手动旋转下压,通过治具手动下压上模翻盖,微针能够自动与连接器上的测试点的模组相接触,测试模组微针与待测试产品连接器的测点良好接触后开始测试。但是在进行测试时,旋转下压上模翻盖,上模翻盖上的上模压头不能够保证垂直状态,并且在转动上模翻盖时,直接硬压容易对上模压头上的连接器产生过压使得连接器发生损坏,从而导致产品的良品率以及测试效率降低。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足,提供一种连接器微针双层浮动测试模组,能够保证上模压头垂直软下压,防止上模压头硬压导致连接器发生损坏,从而保证产品测试的良品率及测试效率能够稳定。

为了实现上述目的,本实用新型采用了以下技术方案:

一种连接器微针双层浮动测试模组,包括:

下模底座,形成有第一安装槽,所述第一安装槽内从上至下依次安装有下模浮动板及下模针板,所述下模浮动板通过第一弹性件与所述下模针板连接,所述下模浮动板上还设有能够使微针穿过的通孔及用于安装待测物的凹槽;

上模翻盖,所述上模翻盖与所述下模底座活动连接,可绕所述下模底座转动使得所述上模翻盖能够与所述下模底座压合,所述上模翻盖上还形成有第二安装槽,所述第二安装槽内安装有上模固定座,所述上模翻盖上还固定安装有上模盖板,所述上模固定座通过第二弹性件与上模盖板连接,所述上模固定座上还形成有第三安装槽;

上模压头,包括:第一连接部及从所述第一连接部延伸出的压合部,所述第一连接部位于所述第三安装槽内且与所述上模固定座活动连接,可绕上模固定座转动使得所述上模压头下压时保持垂直状态,所述压合部用于下压所述下模浮动板使得所述微针能够从所述下模浮动板内露出与所述待测物上的连接器连接。

进一步的,所述上模压头内还安装有第一磁极,所述上模固定座内还相应安装有能够与所述第一磁极相排斥的第二磁极。

进一步的,所述上模翻盖的第一端与所述下模底座转动连接,所述上模翻盖的第二端与所述下模底座勾接,且所述第一端与所述第二端相对。

进一步的,所述上模翻盖上还设置有定位销,所述下模浮动板及所述下模针板上均还形成有同轴心的定位孔。

进一步的,所述下模底座的侧壁上还设置有卡勾,所述上模翻盖的第二端还相应形成有卡板,所述卡勾与所述卡板相配合使得上模翻盖与所述下模底座勾接。

进一步的,所述卡勾包括:设置在所述卡勾第三端的弹性端、设置在所述卡勾第四端的勾接端及设置在所述卡勾中间区域的第二连接部,所述弹性端通过第三弹性件与所述下模底座连接,所述勾接端形成有第四安装槽,所述卡板与所述第四安装槽相配合使得所述上模翻盖与所述下模底座勾接,所述第二连接部通过转轴与所述下模底座转动连接,且所述第三端与所述第四端相对。

进一步的,所述卡板与所述上模翻盖一体成型。

进一步的,所述卡勾通过轴销与所述下模底座转动连接。

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