[实用新型]一种用于半导体照明灯光的光型检测装置

说明书

本实用新型提供一种用于半导体照明灯光的光型检测装置，包括支撑块、支撑杆、顶板、收纳槽、电动伸缩杆、遮光罩、安装座、光型板、吸附片、第一刻度线以及第二刻度线，检测台下侧固定安装有支撑块，检测台上侧安装有支撑杆，支撑杆上侧安装有顶板，顶板内部开设有收纳槽，收纳槽内部安装有遮光罩，顶板下端面中间位置装配有电动伸缩杆，电动伸缩杆下侧固定安装有安装座，遮光罩设置在灯具主体外侧，检测台上侧安装有光型板，检测台上侧且位于光型板外侧安装有吸附片，光型板上刻设有第一刻度线，光型板上且与第一刻度线交叉刻设有第二刻度线，本实用新型结构合理，方便半导体照明灯光的光型检测，检测便捷且效率高。

技术领域

本实用新型属于半导体照明灯应用技术领域，涉及光型检测装置，具体为一种用于半导体照明灯光的光型检测装置。

背景技术

半导体晶体管以及集成电路的发明和发展使计算机成为人类社会不可或缺的东西，这数得上是20世纪最重要的技术革命。进入90年代以来，随着半导体科学技术的发展，宽禁带氮化镓、碳化硅等材料的生长技术和器件制造技术的突破和改善，超高亮度的蓝绿色发光二极管随之出现。蓝光二极管的出现，不仅仅只是丰富了色彩，有了红橙黄绿青蓝紫全彩，更重要的意义是出现了白色光——半导体灯。半导体照明灯将逐步取代电真空灯泡和日光灯管，成为又一个影响人类社会物质文明的电子革命的产物。

现有技术中，为了保证半导体照明灯产品性能的稳定，往往会涉及到对半导体照明灯光的光型检测，目前，对半导体照明灯光型的检测方法大部分都是采用专业仪器设备检测方法或采用传统的人工目视检测方法，采用专业仪器设备检测方法需要的专业仪器设备配置比较多，专业仪器设备成本高，且仪器检测分析往往需要专业性较强的人才能操作，采用传统的人工目视检测方法效率较低，容易出现漏检和错检的现象，且不能及时准确地判断和高准确性满足在线检测的需求，为此，我们提出一种用于半导体照明灯光的光型检测装置。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型目的是提供一种用于半导体照明灯光的光型检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题，本实用新型结构合理，方便半导体照明灯光的光型检测，检测便捷且效率高。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：一种用于半导体照明灯光的光型检测装置，包括支撑块、检测台、支撑杆、顶板、收纳槽、电动伸缩杆、遮光罩、安装座、灯具主体、光型板、吸附片、第一刻度线以及第二刻度线，所述检测台下侧固定安装有支撑块，所述检测台上侧安装有支撑杆，所述支撑杆上侧安装有顶板，所述顶板内部开设有收纳槽，所述收纳槽内部安装有遮光罩，所述顶板下端面中间位置装配有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆下侧固定安装有安装座，所述安装座内部装配有灯具主体，所述遮光罩设置在灯具主体外侧，所述检测台上侧安装有光型板，所述检测台上侧且位于光型板外侧安装有吸附片，所述光型板上刻设有第一刻度线，所述光型板上且与第一刻度线交叉刻设有第二刻度线。

进一步地，所述遮光罩为伸缩褶皱式挡光罩。

进一步地，所述遮光罩下侧安装有铁片，且铁片与吸附片相吸。

进一步地，所述吸附片设置有四个，且四个吸附片呈环形阵列状分布在光型板外侧。

进一步地，所述光型板为圆形状，第一刻度线与第二刻度线呈垂直交叉状刻设在光型板上，第一刻度线与第二刻度线的交叉点与光型板的圆心相重合。

进一步地，所述收纳槽呈圆环状，所述遮光罩折叠收纳在收纳槽内部。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

1、通过收纳槽、电动伸缩杆、遮光罩、安装座、灯具主体、光型板、吸附片、第一刻度线、第二刻度线的配合使用，灯具主体通过安装座安装在电动伸缩杆下侧，电动伸缩杆通电进行伸缩调节，方便灯具主体检测高度的调节，遮光罩为伸缩褶皱式挡光罩，遮光罩折叠收纳在收纳槽内部，检测时，拉伸遮光罩遮挡在灯具主体的外侧，方便灯具进行光型检测，遮光罩下侧安装有铁片，通过铁片与吸附片相吸附，方便遮光罩的固定；