[实用新型]一种小型方块电阻测试装置

说明书

本实用新型公开了一种小型方块电阻测试装置，包括万用电表和测试盒，万用电表包括第一测试表笔和第二测试表笔，测试盒为绝缘体且为中空的腔体结构，测试盒顶部设有上下贯通的测试孔，两个测试孔间隔一定距离设置，测试盒底部设有上下贯通的通槽，两个通槽分别设在两个测试孔下方，测试盒内设有通过弹性件挂设的测试体，测试体为导电体，两个测试体分别设在两个测试孔下方，每一测试体顶部设有向下的凹槽，底部设有测试件，测试件与通槽位置相对，将第一测试表笔和第二测试表笔分别从两个测试孔穿过，分别按压两个凹槽，使两个测试体下降，进而使两个测试体分别穿过两个通槽，接触导电薄膜，结构简单，轻便小巧，使用方便。

技术领域

本实用新型涉及电学测试技术领域，具体涉及一种小型方块电阻测试装置。

背景技术

方块电阻是衡量导体导电性的电学参数之一，方块电阻的大小与样品长宽尺寸无关，其定义为任意大小的正方形导体边到边的电阻，方块电阻仅与导电膜的厚度和电阻率有关。常用于衡量薄膜膜层的导电性能。在导电薄膜及半导体领域较为常见。

常见的方块电阻的电阻测试方法为四探针法，该方法精度较高但是测试步骤繁琐，测试需要专门的仪器，价格昂贵且不便携，对于此方面测试要求精度不高的场合而言其效率和实用性较低。

实用新型内容

根据现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种小型方块电阻测试装置，配合万用电表即可测试方块电阻参数，结构简单，轻便小巧，使用方便。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

一种小型方块电阻测试装置，包括万用电表和测试盒，所述万用电表包括第一测试表笔和第二测试表笔，所述测试盒为绝缘体且为中空的腔体结构，所述测试盒顶部设有上下贯通的测试孔，两个测试孔间隔一定距离设置，所述测试盒底部设有上下贯通的通槽，两个通槽分别设在两个测试孔下方，所述测试盒内设有通过弹性件挂设的测试体，所述测试体为导电体，两个测试体分别设在两个测试孔下方，每一所述测试体顶部设有向下的凹槽，底部设有测试件，两个所述测试孔分别与两个所述凹槽上下位置相对应，两个所述测试件分别与两个所述通槽上下位置相对应，将第一测试表笔和第二测试表笔分别从两个测试孔穿过，分别按压两个凹槽，使两个测试体下降，进而使两个测试体分别穿过两个通槽，接触导电薄膜。

进一步地，所述测试体包括接触件，所述凹槽设在所述接触件顶部，所述测试件设在所述接触件底部且与所述接触件一体成型呈“T”字形。

进一步地，所述测试件顶部相对于所述接触件对称设有挂耳，每一所述挂耳通过所述弹性件与所述测试盒连接。

进一步地，所述测试盒内相对于所述接触件固定有两根挂杆，所述弹性件为弹簧，所述弹性件一端挂设在所述挂杆上，另一端挂设在所述挂耳上。

进一步地，所述测试盒内设有两个限位腔，每一所述接触件穿过一个所述限位腔，通过所述限位腔限制所述接触件在竖直方向上下移动。

进一步地，所述测试件的底部为细线状。

进一步地，每一所述测试件底部的长度和两个所述测试件底部的间距相等。

进一步地，所述测试盒底面为平滑面。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点和有益效果：

1.本实用新型所述的一种小型方块电阻测试装置，配合万用电表即可快速测试方块电阻参数，相比于四探针法，结构简单，轻便小巧，测试步骤简单，使用方便。

2.本实用新型所述的一种小型方块电阻测试装置，测试时，第一测试表笔和第二测试表笔分别从两个测试孔中插入，通过在通槽内的测试体与导电薄膜接触，可有效避免探针划伤导电薄膜。