[实用新型]一种高密度样品分析的磁分析系统有效

专利信息
申请号: 202020980944.0 申请日: 2020-06-02
公开(公告)号: CN212062383U 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: 向昱霖;史国强;苏容波;刘作业;孙少华 申请(专利权)人: 兰州大学
主分类号: H01J49/04 分类号: H01J49/04;H01J49/20;H01J49/30
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 贾慧娜
地址: 730014 甘肃*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 一种 高密度 样品 分析 系统
【权利要求书】:

1.一种用于高密度样品分析的磁分析系统,其特征在于,包括铯溅射器、铯溅射靶、引出和聚焦电极、加速电极、磁偏转质量分析器、自由漂移区、微通道板探测器与数据采集卡;

所述铯溅射器与铯溅射靶相连;样品放置在溅射靶区,所述引出和聚焦电极紧连铯溅射器部分,加速电极位于引出和聚焦电极后面,所述磁偏转质量分析器与电离靶室相连,所述自由漂移区设置在磁偏转质量分析器和微通道板探测器之间,所述微通道板探测器与数据采集卡相连,所述数据采集卡与计算机相连。

2.如权利要求1所述的用于高密度样品分析的磁分析系统,其特征在于,所述磁偏转质量分析器内的真空度小于10-8Pa;所述自由漂移区的真空度小于10-4Pa,微通道板探测器工作真空为小于10-4Pa。

3.如权利要求1所述的用于高密度样品分析的磁分析系统,其特征在于,所述磁偏转质量分析器的偏转磁铁为45°偏转磁铁。

4.如权利要求1所述的用于高密度样品分析的磁分析系统,其特征在于,所述铯溅射靶部分,将制备好的样品粉末压入靶槽中,形成靶块。

5.如权利要求4所述的用于高密度样品分析的磁分析系统,其特征在于,所述靶块的制作中,镶嵌在靶座中的靶块刚好可以和靶槽的口面相平或者中间略有凹陷,并在中间打一个小孔,满足工作后能形成自聚焦输出状态,达到出束要求。

6.如权利要求1所述的用于高密度样品分析的磁分析系统,其特征在于,所述微通道板探测器是一种大面阵的高空间分辨的电子倍增探测器。

7.如权利要求1所述的用于高密度样品分析的磁分析系统,其特征在于,所述数据采集卡为ADQ412高速数据采集卡。

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