[实用新型]一种变温长余辉特性的测量装置

说明书

本申请公开了一种变温长余辉特性的测量装置，采用机电方案实现激发光路和检测光路单路选通，解决了采用通断电方式时因断电前强散射光导致的信号拖尾和因断电导致的信号波动的问题。该测量装置包括激发光源、变温组件、检测组件和调节组件；变温组件位于调节组件的下方，激发光源与检测组件均位于调节组件的上方；调节组件包括转盘、驱动源和多个透镜，转盘位于透镜上方，转盘的盘面上设有与透镜配合使用的多个转盘通孔，驱动源与转盘连接；激发光源和检测组件分别与调节组件中的不同透镜光路连接；在调节组件中，驱动源驱动转盘旋转来调节转盘通孔与透镜的相对位置，使得透镜处于通光状态或者挡光状态。

技术领域

本申请涉及一种变温长余辉特性的测量装置，属于光学测试仪器领域。

背景技术

余辉材料是受光辐照后数秒至数小时内仍可继续发光的光致发光材料。长余辉材料是一种可以长时间(一般为1小时以上)发光的余辉材料，这种材料可起应急显示、安全照明、辐射探测等作用，被广泛应用在军事航空、医疗造影、交通指示、光电器件等领域。

现有技术中一种长余辉材料的测试方式是先将长余辉材料放在暗处升温使其陷阱倒空，然后由外部光辐照材料，停止辐照后再通过持续升温，测量其发光随温度变化的特性曲线；另一种热释光特性测试为通过软件控制激发光熄灭和点亮的时间，以及检测系统的采集时间，实现辐照和检测光路选通。然而，通过通断电方式实现余辉特性测量的方案中：若采用光电倍增管探测，在通断电时产生的信号波动会导致光电倍增管信号不稳且；若采用光纤光谱仪探测，在激发光照辐照时的CCD一直处于通光甚至过曝状态，从而会导致在检测时CCD中存在无法扣除的背景信号累积信号拖尾。

实用新型内容

根据本申请提供了一种变温长余辉特性的测量装置，通过马达调节转盘通孔与透镜的相对位置，用定位销辅助实现激发光路和检测光路单路选通，解决了采用通断电方式时因断电前强散射光导致的信号拖尾和因断电导致的信号波动的问题。

一种变温长余辉特性的测量装置一种变温长余辉特性的测量装置，所述测量装置包括激发光源、变温组件、检测组件和调节组件；

所述变温组件连接在所述调节组件的下方，所述激发光源与所述检测组件均连接在所述调节组件的上方；

所述调节组件包括转盘、驱动源和多个透镜，所述转盘位于所述透镜的上方，所述转盘的盘面上设有多个与所述透镜配合使用的转盘通孔，所述驱动源与所述转盘连接；

所述激发光源和检测组件分别与所述调节组件中的不同透镜光路连接；

在所述调节组件中，所述驱动源驱动所述转盘旋转来调节所述转盘通孔与透镜的相对位置，使得所述透镜处于通光状态或者挡光状态。

可选地，所述调节组件还包括透镜座，所述转盘位于所述透镜座的上方，所述透镜座的顶面设有多个透镜座通孔，所述透镜固定在所述透镜座通孔内。

可选地，所述透镜座的顶面为向外下方向倾斜的斜面，所述透镜座通孔位于所述透镜座顶面上。

可选地，所述透镜座通孔含有第一类型透镜座通孔和第二类型透镜座通孔；所述第一类型透镜座通孔用于使所述激发光源与测试样品光路连接；所述第二类型透镜座通孔用于使所述测试样品与检测组件光路连接。

可选地，所述转盘上的盘面为向外下方向倾斜的斜面，所述转盘通孔位于所述转盘顶面上。

可选地，所述转盘通孔含有第一类型转盘通孔和第二类型转盘通孔；

所述第一类型转盘通孔与第一类型透镜座通孔相配合：当第一类型转盘通孔与第一类型透镜座通孔处于通光状态时，第二类型转盘通孔与第二类型透镜座通孔相错开，使得第二类型透镜座通孔中的透镜处于挡光状态；