[实用新型]一种光学零件局部光圈检测专用夹具

说明书

本实用新型涉及一种光学零件局部光圈检测专用夹具，包括检测夹具本体，所述检测夹具本体的外周设有若干个检测槽，所述检测本体的一侧设有衔接座，所述衔接座上安装有可拆卸的把手，所述衔接座内设有第一插槽，所述把手靠近第一插槽的一侧设有楔形插接头。在检测夹具本体上设有若干个检测槽，可以方便作业员工把待检测光学晶片放入夹具中，精准读数，从而解决检测标准不统一的问题，另外把手可以通过衔接座进行拆卸，如此检测夹具本体可以进行更换，方便对不同尺寸光学晶片进行检测，提高了检测的灵活性和便利性。

技术领域

本实用新型涉及检测工具的技术领域，具体是一种光学零件局部光圈检测专用夹具。

背景技术

光学零件在生产后需要对其进行局部光圈检测，目前市面上的检测夹具在使用时，由于尺寸固定，使得检测时很不方便，需要更换不同的夹具进行检测，不仅提高检测成本，还降低了检测的效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种光学零件局部光圈检测专用夹具，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种光学零件局部光圈检测专用夹具，包括检测夹具本体，所述检测夹具本体的外周设有若干个检测槽，所述检测本体的一侧设有衔接座，所述衔接座上安装有可拆卸的把手，所述衔接座内设有第一插槽，所述把手靠近第一插槽的一侧设有楔形插接头。

作为本实用新型进一步的方案：所述衔接座在第一插槽的内壁设有插入轴，所述楔形插接头内设有供插入轴插入的第二插槽。

作为本实用新型进一步的方案：所述插入轴的一侧设有活动槽，所述活动槽内底部设有弹簧，所述弹簧远离插入轴的一侧设有楔形限位块，所述楔形插接头内壁设有供楔形限位块卡入的楔形卡槽，所述衔接座上设有弹簧帽，所述衔接座内设有与楔形卡槽连通的活动腔，所述活动腔内布设有活动杆，所述活动杆的一端与弹簧帽连接，所述活动杆远离弹簧帽的一端贯穿至楔形卡槽内。

作为本实用新型进一步的方案：所述把手的外壁设有防滑套。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过在检测夹具本体上设有若干个检测槽，可以方便作业员工把待检测光学晶片放入夹具中，精准读数，从而解决检测标准不统一的问题，另外把手可以通过衔接座进行拆卸，如此检测夹具本体可以进行更换，方便对不同尺寸光学晶片进行检测，提高了检测的灵活性和便利性。

附图说明

图1为本实用新型所述光学零件局部光圈检测专用夹具的俯视图；

图2为本实用新型所述光学零件局部光圈检测专用夹具的结构示意图；

图3为本实用新型所述光学零件局部光圈检测专用夹具中衔接座与把手安装的结构示意图；

图4为图3中A处的局部放大示意图。

图中：1、把手；101、第二插槽；102、楔形卡槽；103、楔形插接头；2、检测夹具本体；3、检测槽；4、衔接座；401、第一插槽；402、插入轴；403、弹簧；404、楔形限位块；405、活动槽；406、弹簧帽；407、活动杆；408、活动腔；5、防滑套。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。