[实用新型]一种针管一体式测试探针

说明书

本实用新型公开了一种针管一体式测试探针，包括：针杆，所述针杆包含一端的针头部以及中间的限位部；针管，所述针管套设所述针杆上，并且针管位于所述针头部和限位部之间；弹簧，所述弹簧套设在所述针杆上，并且弹簧卡设于所述针头部与所述针管之间。该针管一体式测试探针，解决了现有针管一体式测试探针，在狭小的空间内进行较多部件配合，常常会造成尺寸误差较大，致使带套测试探针在实际测试时，存在接触不良，导致测试数据不准确的问题。

技术领域

本实用新型属于电子元器件技术领域，尤其是涉及一种针管一体式测试探针。

背景技术

测试探针是电测试的接触媒介，主要作为电子元器件连接导电的载体来使用，属于高端紧密型电子五金元器件。

带套测试探针是测试探针中的一种，主要由针轴、针管、弹簧、套管组成，套管尾部装有尾针，尾针上面焊有电缆线，与测试控制板连接；针轴、针管和弹簧构成测试探针，测试探针装入套管内部，工作时测试探针的针轴与被测试对象接触，通过针轴导电传输功能体的数据判断产品是否正常接触以及运作数据正常。

根据发明人的实际生产经验，现有的带套测试探针普遍存在以下缺陷：由于带套测试探针的尺寸较小（直径一般为几毫米）且组成的部件较多，因此在狭小的空间内进行较多部件配合，常常会造成尺寸误差较大，致使带套测试探针在实际测试时，存在接触不良，导致测试数据不准确的问题。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种针管一体式测试探针，以解决现有针管一体式测试探针，在狭小的空间内进行较多部件配合，常常会造成尺寸误差较大，致使带套测试探针在实际测试时，存在接触不良，导致测试数据不准确的问题。

为了实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：一种针管一体式测试探针，包括：

一针杆，所述针杆包含一端的针头部以及中间的限位部；

一针管，所述针管套设所述针杆上，并且针管位于所述针头部和限位部之间；

一弹簧，所述弹簧套设在所述针杆上，并且弹簧卡设于所述针头部与所述针管之间。

本实用新型的技术方案，还具有以下特点：

所述限位部包含位于所述针杆外壁上的环形槽以及装夹在所述环形槽中的夹具。

所述夹具为卡环。

所述针管的一端设置有连接法兰。

所述弹簧为压缩弹簧。

所述连接法兰的端面上设置有第一弹簧环形槽，所述弹簧的一端设置在所述第一弹簧环形槽中。

所述针头部的端面上设置有第二弹簧环形槽，所述弹簧的另一端设置在所述第二弹簧环形槽中。

所述针管另一端设置有直径缩小的限位管，所述限位管抵压在所述限位部上。

所述针头部的前端为球形面。

本实用新型的有益效果是：本实用新型的一种针管一体式测试探针，一方面将针轴和针管作为一体使用，从而减少了部件进行装配的数量，确保各部件之间装配的精确性，另一方面弹簧采用外置式布置，将针杆与针管可滑动压缩地装配在一起，装配相对简单，可进一步确保各部件之间装配的精确性，最终使本实用新型的这种针管一体式测试探针，能够与被测对象实现良好接触，确保测试结果的准确性。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型的一种针管一体式测试探针的结构示意图；

图2为图1中针杆的结构示意图；