[实用新型]一种VP垂直摆倾斜仪的测量环境控制装置

权利要求书

1.一种VP垂直摆倾斜仪的测量环境控制装置，包括底座(1)和摆体(2)，摆体(2)设置在底座(1)上；其特征在于：还包括第一箱体(3)、第二箱体(4)、绝热部件(5)和恒温模块(6)；

所述第一箱体(3)内部中空，第一箱体(3)的一端具有第一开口部；

所述第二箱体(4)内部中空，第二箱体(4)的一端具有第二开口部；

所述绝热部件(5)具有第一端面和第二端面，绝热部件(5)的第一端面与底座(1)固定连接；绝热部件(5)的第二端面与摆体(2)固定连接；

其中，第一箱体(3)和第二箱体(4)均固定设置在底座(1)上，且第一箱体(3)与底座(1)合围形成第一腔体，绝热部件(5)和摆体(2)均位于第一腔体内，绝热部件(5)与第一箱体(3)的第一开口部密封连接；第二箱体(4)与底座(1)合围形成第二腔体，第一箱体(3)位于第二腔体内；恒温模块(6)设置在底座(1)上，并使工作状态的第一腔体内的温度保持恒定。

2.根据权利要求1所述的一种VP垂直摆倾斜仪的测量环境控制装置，其特征在于：所述恒温模块(6)包括稳压电源单元、测温元件、信号调理单元、MCU和温控单元；稳压电源单元的输出端分别与测温元件、信号调理单元、MCU和温控单元电性连接；信号调理单元接收测温元件的输出信号，经AD转换后输出至MCU中，MCU的输出端与温控单元电性连接，MCU保持或者切换温控单元的工作状态，使第一腔体内的温度保持恒定。

3.根据权利要求2所述的一种VP垂直摆倾斜仪的测量环境控制装置，其特征在于：所述稳压电源单元包括第一双路精密运算放大器U1、第二双路精密运算放大器U2和电加热器H；第二双路精密运算放大器U2的正向电源端和三极管Q1的集电极均与+15V电源电性连接，第二双路精密运算放大器U2的反相输入端接地；第二双路精密运算放大器U2的输出端分别与其同相输入端和三极管Q2的基极和集电极电性连接，三极管Q2的集电极与第一双路精密运算放大器U1的同相输入端电性连接，三极管Q2的基极还与第一双路精密运算放大器U1的反相输入端电性连接，第一双路精密运算放大器U1的输出端与三极管Q1的基极电性连接，三极管Q1的发射极与第二双路精密运算放大器U2的反相输入端电性连接；第二双路精密运算放大器U2的反相输入端与其输出端分别与电加热器H的两端并联；第二双路精密运算放大器U2的输出端作为稳压电源单元的输出端。

4.根据权利要求3所述的一种VP垂直摆倾斜仪的测量环境控制装置，其特征在于：所述稳压电源单元还包括三极管Q3和稳压管D2，稳压管D2的负极与第二双路精密运算放大器U2的输出端电性连接，稳压管D2的正极与三极管Q3的基极电性连接，三极管Q3的集电极与第二双路精密运算放大器U2的同相输入端电性连接，三极管Q3的发射极接地。

5.根据权利要求2所述的一种VP垂直摆倾斜仪的测量环境控制装置，其特征在于：所述信号调理单元包括AD转化模块U3，测温元件的一端与分压电阻R10的一端和电容C4的一端并联后与，AD转化模块U3的模拟信号输入端电性连接；电阻R10的另一端和电容C4的另一端并联后接地；AD转化模块U3的输出端与MCU的输入端电性连接。

6.根据权利要求5所述的一种VP垂直摆倾斜仪的测量环境控制装置，其特征在于：所述测温元件为NTC热敏电阻，所述MCU为STM32单片机。

7.根据权利要求2所述的一种VP垂直摆倾斜仪的测量环境控制装置，其特征在于：所述温控单元包括H桥电路U4和半导体制冷器TEC，H桥电路U4的PMW输入端与MCU的PMW输出端电性连接，H桥电路U4的输出端与半导体制冷器TEC电性连接；半导体制冷器TEC固定设置在第一箱体(3)的内表面。

8.根据权利要求1所述的一种VP垂直摆倾斜仪的测量环境控制装置，其特征在于：所述第一箱体(3)与第二箱体(4)之间的第二腔体为真空。