[实用新型]一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统

权利要求书

1.一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，其特征在于，包括：多辐射源角分布测量模块、电子-质子谱仪模块、伽玛滤片堆栈谱仪模块以及瞄准激光组件；

所述瞄准激光组件发射的激光依次穿过所述伽玛滤片堆栈谱仪模块、所述电子-质子谱仪模块以及所述多辐射源角分布测量模块，形成光轴入射到靶面，使得所述多辐射源角分布测量模块、所述电子-质子谱仪模块、所述伽玛滤片堆栈谱仪模块和所述瞄准激光组件发射的激光同轴。

2.根据权利要求1所述的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，其特征在于，所述多辐射源角分布测量模块内设有堆栈组；

所述堆栈组包括：依次排列的CR39膜片、RCF膜片、铝膜、多层RCF膜片组以及多组电子记录板；所述电子记录板包括依次设置的钽片和IP板；所述RCF膜片、铝膜、多层RCF膜片组以及多组电子记录板的中心均设置有通孔，多个所述通孔同轴设置；所述CR39膜片的面积小于所述RCF膜片面积的四分之一。

3.根据权利要求2所述的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，其特征在于，所述多辐射源角分布测量模块还包括装配盒和第一调节支架；所述堆栈组设置在所述装配盒中；所述第一调节支架用于支撑所述装配盒。

4.根据权利要求2所述的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，其特征在于，所述RCF膜片、所述铝膜、所述多层RCF膜片组、所述钽片和所述IP板的横截面相等。

5.根据权利要求1所述的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，其特征在于，所述电子-质子谱仪模块包括准直器、二极磁铁和探测器组件；所述准直器包括依次叠放的质子准直器和电子准直器；所述质子准直器的准直孔为哑铃型；所述电子准直器的准直孔的横截面为长方形；所述质子准直器的准直孔与所述电子准直器的准直孔相对设置；所述二极磁铁位于所述准直器的一侧；所述二极磁铁用于使带电粒子发生偏转；所述探测器组件包括质子信号记录板和电子信号记录板；所述质子信号记录板位于所述光轴的一侧；所述电子信号记录板位于所述光轴的另一侧；带电粒子从所述准直器的另一侧穿过所述准直器，在所述二极磁铁的作用下偏转到所述探测器组件上。

6.根据权利要求5所述的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，其特征在于，所述电子信号记录板包括电子信号探测器夹具和电子IP板，所述电子信号探测器夹具用于固定所述电子IP板；所述质子信号记录板包括质子IP板、楔形滤片和质子信号探测器夹具；所述质子IP板的一侧设置有所述楔形滤片；所述质子IP板的另一侧设置有所述质子信号探测器夹具；所述楔形滤片在临近所述光轴的一侧厚度大。

7.根据权利要求5所述的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，其特征在于，所述电子-质子谱仪模块还包括：第一屏蔽盒和第一调节平台；所述第一调节平台用于支撑所述第一屏蔽盒；所述准直器、二极磁铁和探测器组件设置在所述第一屏蔽盒中。

8.根据权利要求1所述的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，其特征在于，所述伽玛滤片堆栈谱仪模块包括伽玛滤片堆栈；所述伽玛滤片堆栈包括多个依次排列的伽玛滤片组；所述伽玛滤片组包括依次设置的IP板和钽片。

9.根据权利要求8所述的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，其特征在于，所述伽玛滤片堆栈谱仪模块还包括第二屏蔽盒和第二调节平台；所述第二调节平台用于支撑所述第二屏蔽盒；所述第二屏蔽盒内设有所述伽玛滤片堆栈。

10.根据权利要求1所述的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统，其特征在于，所述瞄准激光组件具体包括：激光笔和第二调节支架；所述第二调节支架用于支撑所述激光笔。