[实用新型]一种芯片管脚用测试装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片管脚用测试装置，包括底座，所述底座的上方两侧均设置有支撑侧板，两个所述支撑侧板的上端之间安装有上撑板，所述上撑板上安装有并排的液压缸，所述液压缸的下端固定有升降盒，所述升降盒的内部上方转动安装有横向的电驱双向丝杆，所述电驱双向丝杆上螺纹连接有对称的螺母，所述螺母的下表面固定有探针，所述升降盒上与探针对应的位置开设有第一通孔，所述底座的上表面中部安装有桥型架，所述桥型架的上表面与探针对应的位置设置有保护外壳，本实用新型设置了电驱双向丝杆，操作也较为方便，设置了保护外壳，在探针下降进行探测时，探针将脱离保护外壳，其余时间均位于保护外壳内部，操作也较为简单。

技术领域

本实用新型涉及芯片管脚测试技术领域，具体是一种芯片管脚用测试装置。

背景技术

当前自动化控制发展迅速,控制芯片的功能趋于更加的复杂化和多样化，其芯片本身来实现众多的复杂功能。对芯片外部来说基本通过管脚复用的形式来实现芯片各种功能的分时复用。芯片功能和外部管脚的复用同样的越加趋于复杂化，现有的芯片管脚检测开短路测试装置的测试探针都是裸露在外面,易受到空气中的污染物腐蚀,使得测试装置的灵敏度下降；

为此申请号为201720929304.5的专利中提出了一种芯片管脚检测开短路测试装置，其通过手动转动螺纹杆可调整其中一个探针的位置，使得装置可适应不同的芯片，通过将手动转动另一个螺纹杆来将探针收纳在盒体内部，以避免探针暴露在空气中，这种方式操作麻烦。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片管脚用测试装置，以解决现有技术中手动调节其中一个探针的位置比较麻烦，并且手动将探针收回合体内部较为麻烦的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片管脚用测试装置，包括底座，所述底座的上方两侧均设置有支撑侧板，两个所述支撑侧板的上端之间安装有上撑板，所述上撑板上安装有并排的液压缸，所述液压缸的下端固定有升降盒，所述升降盒的内部上方转动安装有横向的电驱双向丝杆，所述电驱双向丝杆上螺纹连接有对称的螺母，所述螺母的下表面固定有探针，所述升降盒上与探针对应的位置开设有第一通孔，所述探针的下部穿过第一通孔，所述底座的上表面中部安装有桥型架，所述桥型架的上表面与探针对应的位置设置有保护外壳，所述桥型架上与保护外壳对应的位置开设有第二通孔。

优选的，所述升降盒的内部固定有横向的导向杆，所述导向杆横向穿过螺母的下部。

优选的，所述升降盒的一侧安装有用以驱动电驱双向丝杆转动的驱动装置，驱动装置包括与电驱双向丝杆相固定的从动轮、设置在从动轮下方的主动轮、用以连接从动轮与主动轮的皮带以及用以驱动主动轮转动的电机。

优选的，所述升降盒的两侧上下方均固定有连接杆，且连接杆远离升降盒的一端固定有滑块，所述支撑侧板的内侧开设有滑道，滑块插入滑道的内部。

优选的，所述电驱双向丝杆的两端通过轴承与升降盒转动连接。

优选的，所述第一通孔的横向长度大于保护外壳的长度。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型设置了电驱双向丝杆，通过驱动装置可使得电驱双向丝杆转动，进而使得两个探针之间的距离可调节，以满足不同尺寸的芯片，操作也较为方便；

2、本实用新型设置了保护外壳，在探针下降进行探测时，探针将脱离保护外壳，其余时间均位于保护外壳内部，避免探针暴露在空气中，并且不需要主动将探针收回，操作也较为简单。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型的结构示意图；