[实用新型]一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具

说明书

本实用新型公开了一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，包括测试箱，所述测试箱内部设有夹持机构，所述夹持机构包括设置在测试箱内底部的滑槽，所述滑槽内部设有第一螺纹杆和第二螺纹杆，所述第一螺纹杆与第二螺纹杆靠近的一端固定连接，所述第二螺纹杆远离第一螺纹杆的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有转板，所述第一螺纹杆与第二螺纹杆侧壁均螺纹连接有夹持板，所述滑槽内壁固定连接有放置板，所述放置板上壁设有测试板，所述测试箱上壁转动连接有箱盖。本实用新型能够快捷方便的拆卸测试板，使维修过程更加便捷，还可以适用于不同型号的半导体芯片，同时能够对芯片的双面引脚同时测试，提高了测试效率的同时还扩大了装置的适用范围。

技术领域

本实用新型涉及半导体芯片测试治具技术领域，尤其涉及一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具。

背景技术

近几年，伴随着人工智能、大数据及物联网等新一代信息技术的发展，全球半导体产业又迎来了一轮景气周期，我国半导体全产业链得到了快速发展，未来也将不断强化半导体产业地位，随着半导体制程工艺不断提升，测试和验证也变得更加重要，目前有许多用来辅助测试人员对双面引脚阵列半导体芯片进行测试的测试治具，但这些测试治具大都存在以下几点不足：

1、在测试治具使用的过程中，用于检测半导体芯片的测试板可能出现故障，需要检测人员对其进行维修，而现有的测试治具中，测试板基本都通过螺丝固定在测试治具内，需要使用螺丝刀对测试板进行拆卸，拆卸起来很麻烦，给维修过程带来了不便；

2、现有的测试治具中一般只有测试半导体芯片单面引脚的功能，需要在测试好一面的引脚之后，翻转半导体芯片，再对另一面的引脚进行测试，不能对双面的引脚同时测试，少数具有测试双面引脚功能的测试治具也只能对某一种型号的芯片进行测试，由于不同型号的芯片厚度不同，从而使得探针无法插入到不同型号的芯片引脚中，适用性较低。

所以，需要设计一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，包括测试箱，所述测试箱内部设有夹持机构，所述夹持机构包括设置在测试箱内底部的滑槽，所述滑槽内部设有第一螺纹杆和第二螺纹杆，所述第一螺纹杆与第二螺纹杆靠近的一端固定连接，所述第二螺纹杆远离第一螺纹杆的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有转板，所述第一螺纹杆与第二螺纹杆侧壁均螺纹连接有夹持板，所述滑槽内壁固定连接有放置板，所述放置板上壁设有测试板，所述测试箱上壁转动连接有箱盖，所述箱盖下端设有测试顶板，所述测试顶板与测试板相对的侧壁均设有多个测试探针，所述箱盖上设有调节机构。

优选地，所述调节机构包括设置在箱盖下壁的调节槽，所述调节槽内壁贯穿设有调节螺杆，所述调节螺杆通过轴承与箱盖的贯穿处转动连接，所述调节螺杆位于箱盖上方的一端固定连接有转杆，所述调节螺杆侧壁螺纹连接有调节板，所述调节板下壁固定连接有两个连接杆，两个所述连接杆远离调节板的一端均与测试顶板上壁固定连接。

优选地，两个所述夹持板以第一螺纹杆与第二螺纹杆的连接处为中心对称设置，两个所述夹持板相对的侧壁均设有橡胶垫，两个所述夹持板的侧壁均与滑槽的内壁贴合。

优选地，所述第一螺纹杆远离第二螺纹杆的一端通过轴承转动连接在滑槽内壁，所述第一螺纹杆与第二螺纹杆的螺纹方向相反。

优选地，所述箱盖上壁固定连接有把手，所述把手表面设有防滑纹。

优选地，所述测试箱侧壁设有观察窗，所述观察窗内壁固定连接有玻璃板。

本实用新型具有以下有益效果：