[实用新型]一种基于双面阵传感器的显微高光谱设备有效
申请号: | 202020830413.3 | 申请日: | 2020-05-17 |
公开(公告)号: | CN211927087U | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 赵其波;张督锋;李建国;吴瑞强 | 申请(专利权)人: | 北京安洲科技有限公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02;G02B21/24 |
代理公司: | 深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙) 44646 | 代理人: | 陈彩云 |
地址: | 100000 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 双面 传感器 显微 光谱 设备 | ||
1.一种基于双面阵传感器的显微高光谱设备,包括显微镜本体(101),所述显微镜本体(101)的底部固定连接有支撑座(102),其特征在于:所述显微镜本体(101)的顶部设有成像仪(1),所述成像仪(1)的底部设有C口转接环(2),所述成像仪(1)通过C口转接环(2)与显微镜本体(101)的顶部固定连接,所述显微镜本体(101)的中部固定连接有反射照明耦合光路(3),所述支撑座(102)的中部设有载物台(103),所述载物台(103)的底部固定连接有聚光镜,所述载物台(103)的一端在支撑座(102)的中部固定连接显微用Z轴电动平移台(4),所述显微用Z轴电动平移台(4)的一端与载物台(103)固定连接,所述支撑座(102)底部的上表面固定连接有透射式照明光路(5)。
2.根据权利要求1所述的一种基于双面阵传感器的显微高光谱设备,其特征在于:所述成像仪(1)为双面阵传感器内推扫高光谱成像仪,内置精密推扫机构。
3.根据权利要求1所述的一种基于双面阵传感器的显微高光谱设备,其特征在于:所述显微镜本体(101)采用400-1000nm光学设计的显微系统。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京安洲科技有限公司,未经北京安洲科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202020830413.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。