[实用新型]游戏手柄测试装置有效
申请号: | 202020771824.X | 申请日: | 2020-05-11 |
公开(公告)号: | CN212030893U | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 石宏伟;陈勇;薛晓栋 | 申请(专利权)人: | 深圳市微测检测有限公司 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 张婷 |
地址: | 518100 广东省深圳市宝安区福*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 游戏 手柄 测试 装置 | ||
本实用新型公开一种游戏手柄测试装置,该游戏手柄测试装置包括基座、安装座、锁紧件、载物座和驱动组件,安装座设于基座,安装座上设有容置槽,容置槽具有抵接侧壁,抵接侧壁呈弧面设置,抵接侧壁的轴线方向沿容置槽的槽口方向延伸。锁紧件具有夹紧块,夹紧块具有与抵接侧壁相对设置的抵接面,夹紧块与安装座滑动连接,以能够沿抵接侧壁与抵接面的排布方向运动,抵接面用于将游戏手柄抵接于抵接侧壁。载物座沿靠近或远离安装座的方向与基座滑动连接,载物座用于放置压力计。驱动组件设于基座,并与载物座连接,驱动组件用以驱动载物座运动。本实用新型技术方案能够提高对游戏手柄测试的准确性。
技术领域
本实用新型涉及电子设备检测技术领域,特别涉及一种游戏手柄测试装置。
背景技术
一般地,游戏手柄在开发过程中需要对按键进行灵敏度测试,以使游戏手柄的按键灵敏度可以配置在一个较为合适的灵敏度值范围内。然而目前的游戏手柄的按键灵敏度的检测主要由人工测试,即通常是操作人员用压力计的探针按压游戏手柄的按键进行按键的灵敏度测试,但是在该方式中,压力计完全依靠操作人员手持而保持稳定,导致在测试过程中压力计稳定性差,测试误差较大,测试结果不准确。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是提出一种游戏手柄测试装置,旨在提高对游戏手柄测试的准确性。
为实现上述目的,本实用新型提出的游戏手柄测试装置,包括:
基座;
安装座,设于所述基座,所述安装座上设有容置槽,所述容置槽具有抵接侧壁,所述抵接侧壁呈弧面设置,所述抵接侧壁的轴线方向沿所述容置槽的槽口方向延伸;
锁紧件,具有夹紧块,所述夹紧块具有与所述抵接侧壁相对设置的抵接面,所述夹紧块与所述安装座滑动连接,以能够沿所述抵接侧壁与所述抵接面的排布方向运动,所述抵接面用于将游戏手柄抵接于所述抵接侧壁;
载物座,所述载物座沿靠近或远离所述安装座的方向与所述基座滑动连接,所述载物座用于放置压力计;以及,
驱动组件,设于所述基座,并与所述载物座连接,所述驱动组件用以驱动所述载物座运动。
可选地,所述抵接面呈弧面,所述抵接面的弯曲方向与所述抵接侧壁的弯曲方向相反。
可选地,所述游戏手柄测试装置还包括第一弹性垫,所述第一弹性垫设于所述抵接侧壁;和/或,所述游戏手柄测试装置还包括第二弹性垫,所述第二弹性垫设于所述抵接面。
可选地,所述抵接侧壁包括沿第一方向排布的第一接触面和第二接触面,所述第一方向垂直于所述容置槽的槽口方向,并垂直于所述抵接侧壁与所述抵接面的排布方向,所述第一接触面和所述第二接触面均呈弧面设置。
可选地,所述锁紧件还包括连接于所述夹紧块上的第一螺杆以及螺接于所述第一螺杆上的转动盘;所述安装座还设有让位槽和让位孔,所述让位槽沿所述抵接侧壁和所述抵接面排布方向间隔分布,所述让位孔贯穿所述抵接侧壁和所述让位槽的槽壁;所述第一螺杆设于所述让位孔内,所述转动盘设于所述让位槽内,并与所述安装座转动连接,所述转动盘至少部分位于所述让位槽外。
可选地,所述驱动组件包括第二螺杆、连接螺母、第一齿轮、第二齿轮和转动把手,所述第二螺杆与所述载物座转动连接,所述连接螺母螺接于所述第二螺杆,所述第一齿轮套设于所述连接螺母,所述第二齿轮与所述第一齿轮啮合,所述转动把手显露于所述基座外,并与所述第二齿轮连接。
可选地,所述驱动组件包括第二螺杆、第三齿轮和转动把手,所述第二螺杆与所述载物座转动连接,所述第三齿轮与所述第二螺杆啮合,且所述第三齿轮的轴线垂直于所述第二螺杆的轴线,所述转动把手显露于所述基座外,并与所述第三齿轮连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市微测检测有限公司,未经深圳市微测检测有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202020771824.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于架空乘人装置的防掉绳保护装置
- 下一篇:一种用于无人船的自动监测采样系统