[实用新型]探针倒挂式测试机构

说明书

本实用新型涉及电子设备测试技术领域，具体公开一种探针倒挂式测试机构，包括：固定定位块，所述固定定位块设有用于放置待测零件的产品槽，所述产品槽的槽底设有若干上下贯通的探针孔；探针组件，所述探针组件包括针载板和固定于所述针载板上的若干金属探针；所述金属探针位于所述探针孔中并可沿所述探针孔上下滑动；驱动装置，所述驱动装置的驱动端与所述探针组件连接，用于驱动所述探针组件往上运动以使所述金属探针往上顶紧所述待测零件。本实用新型提供一种探针倒挂式测试机构，能解决传统探针式测试机构的金属探针容易出现弯折的问题。

技术领域

本实用新型涉及电子设备测试技术领域，尤其涉及一种探针倒挂式测试机构。

背景技术

参见图1，传统的测试设备都包括固定设置的探针组件1、用于固定待测零件2的浮动定位块3以及用于驱动所述浮动定位块3上下运动的驱动装置4。

具体的测试步骤如下：

①将待测零件2固定于浮动定位块3的固定槽中；

②驱动装置4驱动浮动定位块3往下运动，使得待测零件2底部的测试触点与探针组件1接触；

③启动测试程序，进行测试。

在上述过程中，当待测零件2往下运动时，如果下降的距离过小，探针组件1无法实现与待测零件2的紧密接触，容易导致接触不良。为了防止接触不良，一般均会使待测零件2紧压探针组件1。探针组件1上的金属探针101属于裸露状态，经常承受较大的下压力，容易出现弯折。因此，目前的探针式测试机构上的探针组件1寿命较低，一般只能使用2万次左右。

综上，需要对现有的探针式测试机构进行改进，以解决其金属探针容易出现弯折的问题。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于，提供一种探针倒挂式测试机构，能解决传统探针式测试机构的金属探针容易出现弯折的问题。

为达以上目的，本实用新型提供一种探针倒挂式测试机构，包括：

固定定位块，所述固定定位块设有用于放置待测零件的产品槽，所述产品槽的槽底设有若干上下贯通的探针孔；

探针组件，所述探针组件包括位于所述固定定位块下方的针载板和固定于所述针载板上的若干金属探针；所述金属探针位于所述探针孔中并可沿所述探针孔上下滑动；

驱动装置，所述驱动装置的驱动端与所述探针组件连接，用于驱动所述探针组件往上运动以使所述金属探针往上顶紧所述待测零件。

优选的，还包括：

安装板，所述固定定位块相对所述安装板固定设置，所述安装板上设有安装槽，所述探针组件位于所述安装槽中，所述安装槽的槽底的中央位置设有可供所述驱动装置的驱动端通过的贯穿槽。

优选的，还包括：

复位弹簧，所述复位弹簧位于所述固定定位块的下方，用于驱动所述探针组件相对所述固定定位块往下运动。

优选的，还包括：

底板，所述底板位于所述针载板的下方并与所述针载板固接，所述底板的顶部设有容置盲槽，所述复位弹簧的下端插入所述容置盲槽中。

优选的，还包括：

调节螺栓，所述调节螺栓的一端与所述底板螺纹连接，另一端位于所述安装槽的槽底的边沿位置的上方。

优选的，还包括：

导柱，所述导柱的上端与所述固定定位块固接，下端与所述针载板上下滑动连接；

测试电路板，所述测试电路板位于所述针载板和底板之间，其中央位置设有与所述金属探针电连接的连接触点，边沿位置设有可供所述复位弹簧穿过的过簧孔。