[实用新型]一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针有效
| 申请号: | 202020630754.6 | 申请日: | 2020-04-23 |
| 公开(公告)号: | CN212379267U | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
| 发明(设计)人: | 许吉;布瑾;李康;马璐;周毅;张思成;刘宁;陆云清 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学 |
| 主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21 |
| 代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 范丹丹 |
| 地址: | 210003 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 金属 尖端 楔形 离激元 纳米 聚焦 探针 | ||
1.一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针,其特征在于:该探针结构为柱对称结构,由内向外依次包括Si介质光纤、SiO2等厚介质膜及贵金属膜,Si介质光纤、SiO2等厚介质膜及贵金属膜的末端均为半球状,其中Si介质光纤和SiO2等厚介质膜末端共球心,贵金属膜末端球心在Si介质光纤和SiO2等厚介质膜球心之下h处,贵金属膜厚度沿SiO2等厚介质膜表面向探针尖端逐渐减小至贵金属膜的最薄厚度tm。
2.根据权利要求1所述的一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针,其特征在于:所述Si介质光纤半径为R1,R1=916nm;SiO2等厚介质膜半径为R2,R2=1000nm;贵金属膜半径为R3,R3=1085nm,SiO2等厚介质膜厚度为t1,t1=84nm,贵金属膜厚度为t2,t2=85nm。
3.根据权利要求1所述的一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针,其特征在于:所述Si介质光纤为高折射率介质,折射率n1=3.445;SiO2等厚介质膜为低折射率介质,折射率n2=1.445。
4.根据权利要求1所述的一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针,其特征在于:所述Si介质光纤和SiO2等厚介质膜末端的球心为O1,贵金属膜末端球心为O2,球心O1在贵金属膜末端球心O2之上高h处,h为80nm,贵金属膜的最薄厚度tm为5nm。
5.根据权利要求1所述的一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针,其特征在于:所述贵金属膜厚度t2的取值范围为81nm≤t2≤91nm。
6.根据权利要求1所述的一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针,其特征在于:所述贵金属为Au或Ag。
7.根据权利要求1所述的一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针,其特征在于:所述柱对称结构的入射光为线偏振光或径向偏振光入射,所述径向偏振光的波长为632.8nm,从探针底部垂直入射。
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